JCP-HL 智(zhi)能(neng)回路電阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品概(gai)述(shu) JCP-HL智(zhi)能(neng)回路電阻(zu)測(ce)試儀采用(yong)*大功率開關電(dian)源(yuan)技(ji)術(shu)和*電子線(xian)路精制(zhi)而成(cheng)。是(shi)高(gao)、低開關、電(dian)纜電(dian)線(xian)及(ji)焊縫(feng)接(jie)觸電阻(zu)的測試儀器。其(qi)電(dian)流采用(yong)國(guo)家標準GB736所(suo)推(tui)薦的標(biao)準直流，可(ke)在(zai)標(biao)準電流的情(qing)況下(xia)測(ce)得被(bei)試(shi)品的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)。本(ben)儀器具有體(ti)積(ji)小(xiao)、重(zhong)量輕、抗幹(gan)擾能(neng)力強(qiang)、精(jing)度高(gao)、操作(zuo)方(fang)便(bian)、保(bao)護(hu)功能(neng)完善(shan)等(deng)特(te)點。

KDHL-100A回路電阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品簡(jian)介 Product Introduction 回路電阻(zu)測(ce)試儀是科電中威(wei)電(dian)氣采用(yong)*大功率開關電(dian)源(yuan)技(ji)術(shu)和*電子線(xian)路精制(zhi)而成(cheng)。是(shi)高(gao)、低開關、電(dian)纜電(dian)線(xian)及(ji)焊縫(feng)接(jie)觸電阻(zu)的測試儀器。其(qi)電(dian)流采用(yong)國(guo)家標準GB736所(suo)推(tui)薦的100A直(zhi)流，可(ke)在(zai)100A電(dian)流的情(qing)況下(xia)測(ce)得被(bei)試(shi)品的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)。本(ben)儀器具有體(ti)積(ji)小(xiao)、重(zhong)量輕、抗幹(gan)擾能(neng)力強(qiang)、精(jing)度高(gao)、操作(zuo)方(fang)便(bian)、保(bao)護(hu)功能(neng)完善(shan)

SFHL-100P高(gao)精度回路電阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品簡(jian)介 目(mu)前，電力系(xi)統(tong)中普(pu)遍(bian)采用(yong)常規的(de)QJ44型(xing)雙臂直流電橋(qiao)測(ce)量接觸電阻(zu)，而這(zhe)類電(dian)橋(qiao)的(de)測試(shi)電(dian)流僅m*，難以發(fa)現回路導(dao)體(ti)截(jie)面(mian)積(ji)減(jian)少(shao)的(de)缺(que)陷。在(zai)測(ce)量高(gao)壓開關導(dao)電回路接觸電阻(zu)時，由於受(shou)觸頭(tou)之間油膜(mo)和氧化層的影(ying)響(xiang)，測量值偏(pian)大若(ruo)幹(gan)倍，無(wu)法(fa)真(zhen)實的(de)反映(ying)接(jie)觸電阻(zu)值。為(wei)此(ci)，新(xin)電(dian)力部(bu)標準DL/T845.4—2004《電阻(zu)測量裝(zhuang)置通用(yong)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)：回路電阻(zu)測(ce)試儀》和新版檢(jian)定規(gui)程JJ

SFHL-Z智(zhi)能(neng)回路電阻(zu)測(ce)試儀（100A）產(chan)品簡(jian)介 回路電阻(zu)測(ce)量是電(dian)氣(qi)測(ce)試的(de)重(zhong)要(yao)內(nei)容(rong)，根據(ju)《中華(hua)人民(min)共和國電力行(xing)業(ye)標準》DL/T845.4-2004的標(biao)準，參照(zhao)《電阻測(ce)量裝(zhuang)置通用(yong)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)第(di)4部(bu)分(fen)：回路電阻(zu)測(ce)試儀》的要求(qiu)，本(ben)公(gong)司(si)研(yan)制了(le)全(quan)新(xin)SFHL-Z型(xing)回路電阻(zu)測(ce)試儀，可(ke)方(fang)便(bian)地(di)進行(xing)高(gao)低壓開關的(de)主(zhu)觸頭(tou)接觸電阻(zu)值、高(gao)低壓電纜線(xian)路的直(zhi)流電阻(zu)值(zhi)等(deng)純阻性(xing)試品的(de)測(ce)量。

SFHL-Z智(zhi)能(neng)回路電阻(zu)測(ce)試儀（100A）產(chan)品簡(jian)介 回路電阻(zu)測(ce)量是電(dian)氣(qi)測(ce)試的(de)重(zhong)要(yao)內(nei)容(rong)，根據(ju)《中華(hua)人民(min)共和國電力行(xing)業(ye)標準》DL/T845.4-2004的標(biao)準，參照(zhao)《電阻測(ce)量裝(zhuang)置通用(yong)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)第(di)4部(bu)分(fen)：回路電阻(zu)測(ce)試儀》的要求(qiu)，本(ben)公(gong)司(si)研(yan)制了(le)全(quan)新(xin)SFHL-Z型(xing)回路電阻(zu)測(ce)試儀，可(ke)方(fang)便(bian)地(di)進行(xing)高(gao)低壓開關的(de)主(zhu)觸頭(tou)接觸電阻(zu)值、高(gao)低壓電纜線(xian)路的直(zhi)流電阻(zu)值(zhi)等(deng)純阻性(xing)試品的(de)測(ce)量。

GDHL-100A回路電阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品簡(jian)介 目(mu)前，接觸電阻(zu)的測量電力系(xi)統(tong)中普(pu)遍(bian)采用(yong)常規的(de)QJ44型(xing)雙臂直流電橋(qiao)，而這(zhe)類電(dian)橋(qiao)的(de)測試(shi)電(dian)流僅m*，難以發(fa)現回路導(dao)體(ti)截(jie)面(mian)積(ji)減(jian)少(shao)的(de)缺(que)陷，在(zai)測(ce)量高(gao)壓開關導(dao)電回路接觸電阻(zu)時，由於受(shou)觸頭(tou)之間油膜(mo)和氧化層的影(ying)響(xiang)，測量值偏(pian)大若(ruo)幹(gan)倍，無(wu)法(fa)真(zhen)實的(de)反映(ying)接(jie)觸電阻(zu)值。