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變壓(ya)器(qi)測(ce)試(shi)儀系(xi)列(lie)
回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
SFHL-100P高(gao)精度(du)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

產品簡(jian)介
SFHL-100P高(gao)精度(du)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀產品簡(jian)介目前(qian),電力(li)系(xi)統中普(pu)遍(bian)采(cai)用(yong)常(chang)規的(de)QJ44型雙臂(bi)直(zhi)流電橋(qiao)測(ce)量(liang)接觸(chu)電阻(zu),而(er)這類(lei)電橋(qiao)的測(ce)試(shi)電流(liu)僅m*,難以(yi)發現(xian)回(hui)路導體(ti)截(jie)面(mian)積(ji)減少(shao)的(de)缺陷。在(zai)測(ce)量(liang)高(gao)壓(ya)開(kai)關導電回(hui)路接觸(chu)電阻(zu)時(shi),由(you)於受觸(chu)頭之(zhi)間(jian)油膜和氧(yang)化(hua)層(ceng)的(de)影響(xiang),測(ce)量(liang)值偏大若(ruo)幹(gan)倍,無法(fa)真實(shi)的(de)反(fan)映(ying)接觸(chu)電阻(zu)值(zhi)。為此,新(xin)電力(li)部標(biao)準DL/T845.4—2004《電阻(zu)測(ce)量(liang)裝(zhuang)置(zhi)通(tong)用技術條件:回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀》和新(xin)版(ban)檢定規程JJ
產品分(fen)類
變(bian)壓器(qi)測(ce)試(shi)儀系(xi)列(lie)
SFHL-100P高(gao)精度(du)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀產品簡(jian)介
目前(qian),電力(li)系(xi)統中普(pu)遍(bian)采(cai)用(yong)常(chang)規的(de)QJ44型雙臂(bi)直(zhi)流電橋(qiao)測(ce)量(liang)接觸(chu)電阻(zu),而(er)這類(lei)電橋(qiao)的測(ce)試(shi)電流(liu)僅m*,難以(yi)發現(xian)回(hui)路導體(ti)截(jie)面(mian)積(ji)減少(shao)的(de)缺陷。在(zai)測(ce)量(liang)高(gao)壓(ya)開(kai)關導電回(hui)路接觸(chu)電阻(zu)時(shi),由(you)於受觸(chu)頭之(zhi)間(jian)油膜和氧(yang)化(hua)層(ceng)的(de)影響(xiang),測(ce)量(liang)值偏大若(ruo)幹(gan)倍,無法(fa)真實(shi)的(de)反(fan)映(ying)接觸(chu)電阻(zu)值(zhi)。為此,新(xin)電力(li)部標(biao)準DL/T845.4—2004《電阻(zu)測(ce)量(liang)裝(zhuang)置(zhi)通(tong)用技術條件:回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀》和新(xin)版(ban)檢定規程JJG1052-2009《回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、直(zhi)阻儀檢定規程》作出對測(ce)量(liang)(隔離)開(kai)關、斷(duan)路器(qi)等接觸(chu)電阻(zu)的(de)測(ce)量(liang)電流(liu)不(bu)小(xiao)於直(zhi)流100A,最(zui)小(xiao)電流(liu)維(wei)持(chi)時間(jian)不(bu)低(di)於60S的(de)規定(ding),確(que)保試(shi)驗結果(guo)準確。
SFHL-100P高(gao)精度(du)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
本(ben)儀器(qi)操(cao)作面板采(cai)用(yong)人體(ti)工(gong)學(xue)設(she)計,符合(he)操(cao)作習慣,采(cai)用(yong)高(gao)頻(pin)開(kai)關電源(yuan)和數字(zi)電路技術,適(shi)用(yong)於開(kai)關控(kong)制設(she)備(bei)回(hui)路電阻(zu)的(de)測(ce)量(liang)。測(ce)試(shi)電流(liu)采(cai)用(yong)國(guo)家標(biao)準推(tui)薦的(de)直流100A。可(ke)在(zai)直(zhi)流100A的(de)情(qing)況下(xia)直接測(ce)得(de)回路電阻(zu),測(ce)試(shi)結果(guo)用大屏(ping)幕液晶(jing)LCD顯示(shi),並(bing)有數(shu)據(ju)存儲、輸(shu)出(chu)打印(yin)、時間(jian)設(she)置(zhi)等功(gong)能,另有50A檔位供用戶(hu)選(xuan)擇;自定(ding)義(yi)測(ce)試(shi)時間(jian),最(zui)大(da)設(she)定(ding)時(shi)間(jian)599S,遠大(da)於標(biao)準規定(ding)的(de)60S;是國(guo)內能達到(dao)0.01μΩ分(fen)辨(bian)率且十分(fen)穩(wen)定的(de)接觸(chu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀,性(xing)能超過進口(kou)大(da)電流(liu)微歐(ou)計。符合(he)電力(li)、供電部(bu)門現場(chang)高(gao)壓(ya)開(kai)關維(wei)修和高(gao)壓(ya)開(kai)關廠(chang)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)的要求(qiu)。
1、大電流(liu):高(gao)精度(du)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀采(cai)用(yong)新(xin)電源(yuan)技(ji)術(shu),能長(chang)時間(jian)連續(xu)輸出大(da)電流(liu),克(ke)服了脈沖式電源(yuan)瞬(shun)間(jian)電流(liu)的(de)弊(bi)端(duan),可(ke)以(yi)有效(xiao)的(de)擊穿開(kai)關觸(chu)頭氧(yang)化(hua)膜(mo),得(de)到(dao)良好(hao)的測(ce)試(shi)結果(guo);
2、高(gao)穩(wen)定性(xing):在(zai)嚴(yan)重(zhong)幹(gan)擾條件下(xia),液晶(jing)屏(ping)最(zui)後(hou)壹位數(shu)據(ju)能穩(wen)定在(zai)±1個字(zi)範(fan)圍內(nei),讀數(shu)穩(wen)定,重(zhong)復性(xing);
3、高(gao)精度(du):采(cai)用(yong)雙路高(gao)速(su)16位Σ-ΔAD采(cai)樣,新(xin)數字(zi)信(xin)號處理技(ji)術(shu),最(zui)高(gao)分(fen)辨(bian)力(li)達到(dao)0.01μΩ,是(shi)目前國(guo)內能達到(dao)0.01μΩ分(fen)辨(bian)力(li)且十分(fen)穩(wen)定的(de)接觸(chu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀,性(xing)能超過了進(jin)口(kou)大(da)電流(liu)微歐(ou)計;
4、智能化:使用(yong)進(jin)口(kou)高(gao)性(xing)能CPU,測(ce)量(liang)時系(xi)統根(gen)據信(xin)號大小(xiao)自動切(qie)換(huan)量程,確(que)保(bao)了該產品的(de)測(ce)試(shi)準確度(du)。過溫保護電路能夠在(zai)儀器(qi)超過設(she)定(ding)溫度時自動停(ting)止輸(shu)出電流(liu),確(que)保儀器(qi)的安全使用(yong);
5、高(gao)品質(zhi):關(guan)鍵部件全部采(cai)用(yong)進口(kou)元(yuan)件,通(tong)過巧妙設(she)計的溫度補(bu)償電路有效(xiao)的(de)消除(chu)環境(jing)溫度對測(ce)量(liang)結果(guo)的影響(xiang),接插件的(de)使用(yong)增(zeng)強了抗(kang)振性(xing)能;
6、功(gong)能強大(da):電流(liu)可(ke)在(zai)50A,100A中自(zi)由(you)選擇,測(ce)試(shi)時間(jian)可在(zai)5s~599s內(nei)任意(yi)設(she)定(ding),克(ke)服(fu)了其(qi)他同類(lei)儀器(qi)無法(fa)設(she)定(ding)測(ce)量(liang)時間(jian)或連續(xu)工作時間(jian)過短的缺(que)陷,遠(yuan)遠(yuan)超過了其(qi)他同類(lei)儀器(qi)的性(xing)能;
7、人機(ji)界面(mian)友(you)好(hao):通(tong)過旋(xuan)轉(zhuan)鼠標(biao)輸入(ru)數據(ju),方(fang)便(bian)快(kuai)捷,可(ke)以(yi)自(zi)主(zhu)設(she)置(zhi)儀器(qi)日期、時(shi)間(jian),實(shi)時(shi)保(bao)存測(ce)量(liang)數據,即時(shi)打印(yin)測(ce)量(liang)結果(guo);
8、USB轉存:通(tong)過USB接口(kou)將(jiang)測(ce)量(liang)數據轉存到(dao)U盤,結合上(shang)位機(ji)軟(ruan)件對(dui)測(ce)量(liang)數據進壹步(bu)分(fen)析處(chu)理;
9、該儀器(qi)使用(yong)方(fang)便(bian):體(ti)積(ji)小(xiao)、重(zhong)量輕,便於(yu)攜(xie)帶(dai)。
儀器(qi)可選(xuan):分(fen)檔位調節(jie)及(ji)連續(xu)可調
接觸(chu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、開(kai)關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、接觸(chu)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、接觸(chu)(回路)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
上(shang)壹個:SFHL-Z智能回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(100A)
返(fan)回列(lie)表
下(xia)壹個:SFDLG-1006 電纜(lan)故(gu)障探測(ce)儀
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