產(chan)品(pin)簡介(jie)

GDHL-100A回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)產(chan)品(pin)簡介(jie)


目(mu)前，接觸電阻(zu)的(de)測(ce)量電力系(xi)統(tong)中普遍(bian)采(cai)用(yong)常規的(de)QJ44型(xing)雙臂(bi)直流(liu)電橋，而這類電橋的(de)測(ce)試(shi)電流(liu)僅(jin)m*，難以發(fa)現回路(lu)導體截(jie)面(mian)積減少(shao)的(de)缺(que)陷(xian)，在(zai)測(ce)量高壓(ya)開(kai)關(guan)導(dao)電回路(lu)接觸電阻(zu)時，由(you)於受(shou)觸(chu)頭之間油(you)膜(mo)和(he)氧化層(ceng)的(de)影(ying)響，測(ce)量值偏(pian)大(da)若(ruo)幹(gan)倍(bei)，無法(fa)真實(shi)的(de)反(fan)映接觸電阻(zu)值。

GDHL-100A回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)

產(chan)品(pin)簡介(jie)

目(mu)前，接觸電阻(zu)的(de)測(ce)量電力系(xi)統(tong)中普遍(bian)采(cai)用(yong)常規的(de)QJ44型(xing)雙臂(bi)直流(liu)電橋，而這類電橋的(de)測(ce)試(shi)電流(liu)僅(jin)m*，難以發(fa)現回路(lu)導體截(jie)面(mian)積減少(shao)的(de)缺(que)陷(xian)，在(zai)測(ce)量高壓(ya)開(kai)關(guan)導(dao)電回路(lu)接觸電阻(zu)時，由(you)於受(shou)觸(chu)頭之間油(you)膜(mo)和(he)氧化層(ceng)的(de)影(ying)響，測(ce)量值偏(pian)大(da)若(ruo)幹(gan)倍(bei)，無法(fa)真實(shi)的(de)反(fan)映接觸電阻(zu)值。為此，電力部(bu)標準SD301—88《交流(liu)500KV電力設(she)備交接和預防(fang)性(xing)試(shi)驗(yan)規程》和(he)新(xin)版《電力設(she)備預防(fang)性(xing)試(shi)驗(yan)規程》作(zuo)出(chu)對(dui)斷路(lu)器、隔(ge)離開(kai)關接觸電阻(zu)的(de)測(ce)量電流(liu)不(bu)小於直流(liu)100A的(de)規定，以確(que)保(bao)試(shi)驗(yan)結果(guo)準(zhun)確。

GDHL-100A回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)

是(shi)根據中華(hua)人民共(gong)和國(guo)新(xin)電力執(zhi)行(xing)標準DL/T845.4-2004，采(cai)用(yong)高頻(pin)開(kai)關電源技(ji)術和(he)數字(zi)電路(lu)技術相(xiang)結合(he)設(she)計而成。適(shi)用(yong)於開(kai)關(guan)控制(zhi)設(she)備回路(lu)電阻(zu)的(de)測(ce)量。其(qi)測試(shi)電流(liu)采(cai)用(yong)國家(jia)標準推薦的(de)直流(liu)100A。可在(zai)電流(liu)100A的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)直接測得(de)回路(lu)電阻(zu)，並用(yong)數字(zi)顯(xian)示出(chu)來(lai)。該(gai)回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)測(ce)量準確、性(xing)能穩定，符(fu)合電力、供(gong)電部(bu)門(men)現場高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)維修和(he)高壓(ya)開(kai)關(guan)廠回路(lu)電阻(zu)測試(shi)的(de)要(yao)求

產(chan)品(pin)別稱

接觸電阻(zu)測試(shi)儀(yi)、開(kai)關(guan)回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)、接觸回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)、接觸(回路(lu))電阻(zu)測試(shi)儀(yi)

產(chan)品(pin)特(te)征

1、大(da)電流(liu)：回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)采(cai)用(yong)新(xin)電源技(ji)術，能長時間連(lian)續(xu)輸出(chu)大(da)電流(liu)，克(ke)服了脈(mai)沖式電源瞬(shun)間電流(liu)的(de)弊(bi)端，可以有(you)效(xiao)的(de)擊(ji)穿(chuan)開關(guan)觸頭氧化(hua)膜(mo)，得(de)到(dao)良好(hao)的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)； 
2、抗(kang)幹(gan)擾(rao)能力強(qiang)：在(zai)嚴(yan)重(zhong)幹(gan)擾(rao)條(tiao)件(jian)下(xia)，液(ye)晶(jing)屏最(zui)後(hou)壹(yi)位(wei)數據能穩定在(zai)±1個字範圍內(nei)，讀(du)數(shu)穩(wen)定，重(zhong)復性(xing)好； 
3、本回路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀(yi)使用(yong)壽(shou)命長(chang)：全部(bu)采(cai)用(yong)高精(jing)度(du)電阻(zu)，有(you)效(xiao)的(de)消(xiao)除(chu)環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)對測(ce)量結果(guo)的(de)影(ying)響，同(tong)時接插(cha)件(jian)的(de)使用(yong)增強(qiang)了抗(kang)振(zhen)性(xing)能； 
4、攜(xie)帶方(fang)便(bian)：體積小、重量輕。