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繼電(dian)保護測(ce)試儀
三相繼電(dian)保護測(ce)試儀
AQ330三相微機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀輸(shu)出達(da)4相電(dian)壓3相電(dian)流,可任意(yi)組(zu)合實(shi)現(xian)常(chang)規4相電(dian)壓3相電(dian)流型輸(shu)出模式(shi),既(ji)可兼(jian)容(rong)傳(chuan)統(tong)的各(ge)種(zhong)試驗方(fang)式(shi),也(ye)可方(fang)便地進行三相變(bian)壓器差(cha)動試驗和(he)廠用電(dian)快(kuai)切(qie)和(he)備自(zi)投(tou)試驗。
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-10-31
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XD631三相繼電(dian)保護測(ce)試儀使(shi)用易用的Windows XP操作系(xi)統(tong),人機(ji)界面(mian)友(you)好(hao),操作簡便快捷,為(wei)了方(fang)便用戶使(shi)用,定義了大(da)量鍵盤(pan)快捷鍵(jian),使(shi)得(de)操作“壹鍵(jian)到(dao)位(wei)”。
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-03-21
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GD-3000微機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀產品(pin)概述 微(wei)機繼電(dian)保護測(ce)試儀是近(jin)十年來發展(zhan)起(qi)來的壹個(ge)新(xin)型智(zhi)能(neng)化(hua)測試儀器,以(yi)前的繼電(dian)保護試驗工具主要(yao)是(shi)用調壓器和(he)移相器組(zu)合而成,體(ti)積笨重(zhong),精(jing)度不(bu)高,已(yi)不能(neng)滿足(zu)現(xian)代微機(ji)繼電(dian)保護的(de)校驗工作。隨著科(ke)學技(ji)術的不(bu)斷發展(zhan),微機繼電(dian)保護已(yi)廣(guang)泛運用於線(xian)路(lu)保護,主變(bian)差動(dong)保護,勵磁控(kong)制(zhi)等(deng)各(ge)個(ge)領域(yu),變(bian)電(dian)站(zhan)綜合自(zi)動(dong)化(hua)已成為主流。所以,微(wei)機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀,必將成為(wei)現(xian)代繼電(dian)保護工作人員的(de)必不
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-03-17
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KJ660三相單片(pian)微機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀微機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀是在(zai)參(can)照(zhao)電(dian)力(li)部(bu)頒發的(de)《微(wei)機型(xing)繼電(dian)保護試驗裝(zhuang)置技術(shu)條(tiao)件(討(tao)論稿)》的(de)基(ji)礎(chu)上(shang),廣(guang)泛聽(ting)取用戶意見,總(zong)結目前國(guo)內同(tong)類產品(pin)優(you)缺(que)點(dian),充(chong)分(fen)使(shi)用現(xian)代*微電(dian)子(zi)技術(shu)和(he)器件實(shi)現(xian)的(de)壹種(zhong)新(xin)型小型化(hua)微機繼電(dian)保護測(ce)試儀。
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-03-16
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KJ770三相微機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀繼電(dian)保護裝(zhuang)置(zhi)試驗儀是在(zai)參(can)照(zhao)電(dian)力(li)部(bu)頒發的(de)DL/T624-1997《微(wei)機型(xing)繼電(dian)保護試驗裝(zhuang)置技術(shu)條(tiao)件》的基(ji)礎(chu)上(shang),廣(guang)泛聽(ting)取用戶意見,總(zong)結目前國(guo)內同(tong)類產品(pin)優(you)缺(que)點(dian),充(chong)分(fen)使(shi)用現(xian)代*微電(dian)子(zi)技術(shu)和(he)器件實(shi)現(xian)的(de)壹種(zhong)新(xin)型小型化(hua)微機繼電(dian)保護測(ce)試儀。本(ben)微機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀采(cai)用單機獨(du)立運行(xing),亦(yi)可聯(lian)接(jie)筆記本(ben)電(dian)腦(nao)運行(xing)的*結構。
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-03-16
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HTJB-703 微(wei)機(ji)繼電(dian)保護測(ce)試儀三相、精(jing)度0.5、單片(pian)機 可對(dui)各(ge)種(zhong)繼電(dian)器(qi)(如電(dian)流、電(dian)壓、反時(shi)限、功率(lv)方(fang)向(xiang)、阻抗、差動(dong)、低(di)周(zhou)、同期(qi)、頻率(lv)、直流、中間(jian)、時(shi)間(jian)等(deng))及(ji)微機(ji)保護進行檢(jian)定,並(bing)可模(mo)擬各種(zhong)復(fu)雜(za)的(de)瞬時(shi)性、*性(xing)、轉(zhuan)換(huan)性(xing)故(gu)障進行整組(zu)試驗 參(can)考(kao)標準:GB50150-2006,DL/T849.6-2004 通過(guo) Windows(不(bu)包(bao)括(kuo)Win2000) 平臺(tai)上的(de)全套中(zhong)文操作軟件
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-03-15
產品(pin)型(xing)號:HTJB-703
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