HTZ-2變(bian)壓(ya)器(qi)短(duan)路阻抗測試(shi)儀可(ke)測量變壓(ya)器(qi)短(duan)路阻抗、短(duan)路電抗、三(san)相(xiang)阻抗電壓(ya)等(deng)；可顯示每(mei)次(ci)測試(shi)的(de)電壓(ya)、電(dian)流、功(gong)率(lv)、頻(pin)率(lv)等參(can)數；

HD3005變(bian)壓(ya)器(qi)低電壓(ya)短(duan)路阻抗測試(shi)儀適用於(yu)電力變(bian)壓(ya)器(qi)（單(dan)相(xiang)或(huo)三(san)相(xiang)）出廠(chang)、大(da)修、預試(shi)以及(ji)交(jiao)接(jie)試(shi)驗(yan)中低電壓(ya)負(fu)載阻抗測試(shi)。

HDDL-I變(bian)壓(ya)器(qi)短(duan)路阻抗測試(shi)儀根(gen)據GB1094.5-2003和(he)IEC60076-5:2000規(gui)定(ding)，短(duan)路電抗的(de)變化量(liang)是判(pan)斷變(bian)壓(ya)器(qi)繞組(zu)有無變(bian)形(xing)的(de)判據。

HDDL-III變(bian)壓(ya)器(qi)短(duan)路阻抗測試(shi)儀根(gen)據GB1094.5-2003和(he)IEC60076-5:2000規(gui)定(ding)，短(duan)路電抗的(de)變化量(liang)是判(pan)斷變(bian)壓(ya)器(qi)繞組(zu)有無變(bian)形(xing)的(de)判據。

HDZK-10變(bian)壓(ya)器(qi)低電壓(ya)短(duan)路阻抗測試(shi)儀適用於(yu)電力變(bian)壓(ya)器(qi)（單(dan)相(xiang)或(huo)三(san)相(xiang)）出廠(chang)、交接(jie)、預試(shi)以及(ji)大(da)修的(de)低電壓(ya)阻抗測試(shi)，是檢(jian)查變壓(ya)器(qi)有無繞組(zu)變形的(de)快速測試(shi)儀器(qi)。

HTZK-630 變(bian)壓(ya)器(qi)低電壓(ya)短(duan)路阻抗測試(shi)儀 適用於(yu)電力變(bian)壓(ya)器(qi)（單(dan)相(xiang)或(huo)三(san)相(xiang)）出廠(chang)、大(da)修、預試(shi)以及(ji)交(jiao)接(jie)試(shi)驗(yan)中低電壓(ya)短(duan)路阻抗測試(shi) 參(can)考(kao)標(biao)準：GB50150-2006,DL/T849.6-2004 不用外(wai)接(jie)調(tiao)壓(ya)器(qi)，變壓(ya)器(qi)短(duan)路阻抗測試(shi)儀便可(ke)對(dui)被測試(shi)品進行(xing)測量 對(dui)三(san)相(xiang)變(bian)壓(ya)器(qi)，儀器可單(dan)相(xiang)測試(shi)，也可三(san)相(xiang)測試(shi)；可手(shou)動(dong)測試(shi)，也可自動(dong)測試(shi) 232串口和(he)U盤存儲