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變(bian)壓(ya)器測試(shi)儀
抗幹(gan)擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀
HD-7000A雙變(bian)頻抗幹(gan)擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀

產品(pin)簡(jian)介
HD-7000A雙變(bian)頻抗幹(gan)擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀采(cai)用(yong)復(fu)數電(dian)流(liu)法,測量電(dian)容(rong)、介質(zhi)損耗(hao)及(ji)其(qi)它參(can)數。測(ce)試(shi)結果精度高(gao),便(bian)於實現自動(dong)化(hua)測量(liang)。
產品(pin)分類
相(xiang)關(guan)文(wen)章(zhang)
HD-7000A雙變(bian)頻抗幹(gan)擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀
性(xing)能(neng)特(te)點
1、HD-7000A雙變(bian)頻抗幹(gan)擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀采(cai)用(yong)復(fu)數電(dian)流(liu)法,測量電(dian)容(rong)、介質(zhi)損耗(hao)及(ji)其(qi)它參(can)數。測(ce)試(shi)結果精度高(gao),便(bian)於實現自動(dong)化(hua)測量(liang)。
2、儀器采(cai)用(yong)了(le)變頻技術來(lai)消除(chu)現(xian)場50Hz工(gong)頻幹擾,即使(shi)在(zai)強(qiang)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾的環境下(xia)也(ye)能(neng)測(ce)得的(de)數(shu)據。
3、儀器采(cai)用(yong)大(da)屏幕(mu)液(ye)晶顯(xian)示器,測試(shi)過(guo)程(cheng)通(tong)過(guo)漢字菜單提(ti)示既(ji)直(zhi)觀(guan)又便(bian)於操(cao)作(zuo)。
4、儀器操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian),測量過程(cheng)由微(wei)處(chu)理器控制,只要(yao)選(xuan)擇(ze)好(hao)合(he)適的(de)測量(liang)方式(shi),數據(ju)的(de)測(ce)量就可(ke)在(zai)微(wei)處(chu)理器控制下(xia)自(zi)動(dong)完(wan)成。
5、壹體化(hua)機型(xing),內(nei)附標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)和高(gao)壓(ya)電(dian)源(yuan),便(bian)於現場測試(shi),減(jian)少現(xian)場接線(xian)。
6、儀器測量度高(gao),可滿(man)足油(you)介損測(ce)量(liang)要求(qiu),因(yin)此(ci)只需(xu)配(pei)備標準(zhun)油(you)杯,和(he)專用(yong)測(ce)試(shi)線(xian)即可實現(xian)油(you)介損測(ce)量(liang)。
7、設CVT測試(shi)功(gong)能(neng),可(ke)實(shi)現CVT的自激法(fa)測試(shi),無(wu)需(xu)外(wai)置(zhi)附件,只(zhi)需(xu)壹次測(ce)量,C1,C2的(de)電(dian)容(rong)和介(jie)損全部(bu)測(ce)出(chu)。
8、反(fan)接(jie)線(xian)測試(shi)采(cai)用(yong)ivddv技術,消除(chu)了(le)以往(wang)反(fan)接(jie)線(xian)數據不穩定的現象(xiang)。
9、具(ju)有反(fan)接(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)功(gong)能,在(zai)220kV CVT 母(mu)線(xian)接地(di)情況下(xia),對(dui)C11 可進行(xing)不拆(chai)線(xian)10kV 反(fan)接(jie)線(xian)介損測(ce)量(liang)
10、具有測(ce)量(liang)高(gao)電(dian)壓(ya)介損功(gong)能(neng),能夠(gou)使(shi)用(yong)高(gao)壓(ya)變壓(ya)器或串(chuan)聯(lian)諧(xie)振(zhen)進行(xing)超過10kV電(dian)壓(ya)的介(jie)損試(shi)驗(yan)。
12、接地(di)保護(hu)功能(neng),當(dang)儀器不接地(di)線(xian)或接地(di)不良時(shi),儀器不進入(ru)正(zheng)常(chang)程序,不輸出(chu)高(gao)壓(ya)。過流(liu)保護(hu)功能(neng),在(zai)試(shi)品(pin)短(duan)路(lu)或(huo)擊穿(chuan)時(shi)儀器不受損壞(huai)。
13、觸電(dian)保護(hu)功能(neng),當(dang)儀器操(cao)作(zuo)人員(yuan)不小心觸電(dian)時(shi)候,儀器會立即切(qie)斷(duan)高(gao)壓(ya),試(shi)驗(yan)人員(yuan)的安全.
技術指標(biao)
度: Cx: ±(讀數×1%+1pF)
tgδ: ±(讀數×1%+0.00040)
抗(kang)幹(gan)擾指標: 變頻抗幹(gan)擾,在(zai)200%幹(gan)擾下(xia)仍(reng)能(neng)達(da)到(dao)上(shang)述度
電(dian)容(rong)量範圍: 內(nei)施高(gao)壓(ya): 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外(wai)施高(gao)壓(ya): 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率(lv): 0.001pF,4位(wei)有效(xiao)數(shu)字
tgδ範圍: 不限(xian),分辨率(lv)0.001%,電(dian)容(rong)、電(dian)感(gan)、電(dian)阻(zu)三種試(shi)品(pin)自(zi)動(dong)識(shi)別(bie)。
試(shi)驗(yan)電(dian)流(liu)範圍:10μA~1A
內(nei)施高(gao)壓(ya): 設定電(dian)壓(ya)範圍:0.5~10kV
輸出(chu)電(dian)流(liu):200mA
升降(jiang)壓(ya)方式(shi):連續平(ping)滑(hua)調節(jie)
試(shi)驗(yan)頻率(lv): 45、50、55、60、65Hz單頻
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dong)雙變(bian)頻
頻率(lv)精(jing)度: ±0.01Hz
外(wai)施高(gao)壓(ya): 正接(jie)線(xian)時試(shi)驗(yan)電(dian)流(liu)1A,工頻或變(bian)頻40-70Hz
反(fan)接(jie)線(xian)時試(shi)驗(yan)電(dian)流(liu)10kV/1A,工頻或變(bian)頻40-70Hz
CVT自激法(fa)低壓(ya)輸出(chu):輸出(chu)電(dian)壓(ya)3~50V,輸出(chu)電(dian)流(liu)3~30A
CVT變比測量(liang):
變比測量(liang)精度:±讀數×1% 變比測量(liang)範圍:10~99999
相(xiang)位(wei)測(ce)量精(jing)度:±0.1° 相(xiang)位(wei)測(ce)量範圍:0~359.9°
測量(liang)時(shi)間: 約40s,與測(ce)量(liang)方式(shi)有關(guan)
輸(shu)入(ru)電(dian)源(yuan): 180V~270VAC,50Hz±1%,市電(dian)或(huo)發電(dian)機(ji)供(gong)電(dian)
計算機接(jie)口: 標(biao)準(zhun)RS232接口(kou)
打(da)印(yin)機: 煒(wei)煌A7熱敏(min)微(wei)型打(da)印(yin)機
環境溫(wen)度: -10℃~50℃
相(xiang)對(dui)濕(shi)度: <90%
外(wai)形(xing)尺寸(cun):460×360×350mm
儀器重量:28kg
公(gong)司(si)郵箱: [email protected]
服務(wu)熱線(xian): 027-86536268
公司(si)地(di)址(zhi): 中(zhong)國(guo)湖(hu)北(bei)武(wu)漢市東西(xi)湖(hu)區(qu)中(zhong)國(guo)臺(tai)灣源(yuan)源(yuan)鑫(xin)工(gong)業(ye)園(yuan)B棟(dong)
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