壹、概述(shu)

HDBR-III變(bian)壓(ya)器容量(liang)損耗(hao)參(can)數測試(shi)儀(yi)是(shi)我公(gong)司(si)研(yan)發人員在(zai)原(yuan)我司(si)變(bian)壓(ya)器容量(liang)測(ce)試(shi)儀(yi)基礎(chu)上升(sheng)級而成(cheng)。延續了我司(si)原(yuan)儀(yi)器的體(ti)積(ji)小巧、操作簡單(dan)、使(shi)用方(fang)便等(deng)優點(dian)，並全(quan)面升(sheng)級了內部處(chu)理(li)器、數據(ju)采集系統、國(guo)標數據(ju)，使(shi)儀(yi)器可(ke)用範(fan)圍更(geng)寬，測試(shi)精(jing)度(du)更(geng)高。

本(ben)儀(yi)器包(bao)含(han)了變(bian)壓(ya)器容量(liang)、變(bian)壓(ya)器空載(zai)損耗(hao)、變(bian)壓(ya)器負載(zai)損耗(hao)以(yi)及其(qi)代號(hao)水平判(pan)定(ding)等(deng)功(gong)能(neng)。儀(yi)器內部自帶高效(xiao)能(neng)可(ke)充(chong)電(dian)電(dian)池，無(wu)需外接電(dian)源即可(ke)工(gong)作。電(dian)池壹次(ci)充(chong)電(dian)可(ke)連(lian)續(xu)測(ce)量(liang)100臺(tai)套(tao)以(yi)上的變(bian)壓(ya)器。此(ci)外，儀(yi)器內可(ke)提(ti)供三相(xiang)精(jing)密50Hz正(zheng)弦波交流(liu)測(ce)試(shi)電(dian)源，在(zai)測(ce)量(liang)變(bian)壓(ya)器容量(liang)及變(bian)壓(ya)器負載(zai)損耗(hao)時(shi)不(bu)需要(yao)外接三相(xiang)測試(shi)電(dian)源及調(tiao)壓(ya)器、升(sheng)流(liu)器等(deng)輔(fu)助設備，從而大大提高了您(nin)的(de)工(gong)作效(xiao)率。

本(ben)儀(yi)器為多功(gong)能(neng)測(ce)量儀(yi)器，相(xiang)當(dang)於往(wang)常兩(liang)種測試(shi)儀(yi)器：即有源變(bian)壓(ya)器容量(liang)測(ce)試(shi)儀(yi)+變(bian)壓(ya)器特性參(can)數測試(shi)儀(yi)。它可(ke)對(dui)多種變(bian)壓(ya)器的容(rong)量(liang)、型式、空(kong)載(zai)電(dian)流(liu)、空(kong)載(zai)損耗(hao)、負(fu)載(zai)損耗(hao)、阻抗電(dian)壓(ya)等(deng)壹系列(lie)工(gong)頻(pin)參(can)數進行精(jing)密的(de)測量。

本(ben)產品(pin)具(ju)有體積(ji)小(xiao)、重(zhong)量輕(qing)、測(ce)量準(zhun)確(que)度(du)高(gao)、穩定性好、操作簡單(dan)等(deng)諸(zhu)多(duo)優點(dian)。可(ke)以(yi)取代以(yi)往(wang)利用多(duo)表(biao)法測(ce)量變(bian)壓(ya)器損耗(hao)和容量的方(fang)法(fa)，接線更(geng)簡單(dan)，測(ce)試(shi)、記錄更(geng)方便，使(shi)您(nin)的工(gong)作效(xiao)率得(de)到了大幅度(du)的(de)提升(sheng)。

HDBR-III變(bian)壓(ya)器容量(liang)損耗(hao)參(can)數測試(shi)儀(yi)功能(neng)特點(dian)

l 采用ARM+FPGA+ADC模(mo)式(shi)，並配以(yi)RT-Thread實時(shi)操作系統，儀(yi)器系統(tong)更(geng)穩健，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)更(geng)高。

l 7寸(cun)彩(cai)色高亮液(ye)晶，觸(chu)摸屏(ping)，Win8風(feng)格(ge)界面，中(zhong)文輸(shu)入，全(quan)中(zhong)文菜單(dan)。

l 具(ju)有(you)完(wan)善(shan)電(dian)子(zi)幫助，各項(xiang)操作均有(you)接線圖和文字(zi)描(miao)述(shu)，操作直觀(guan)簡單(dan)。

l 內置大容量存(cun)儲(chu)器，USB口(kou)通(tong)訊(xun)，現(xian)場測試(shi)數據(ju)均可(ke)保存(cun)，根據(ju)客(ke)戶(hu)需要(yao)可(ke)以(yi)將數據(ju)上(shang)傳到PC機。

l 具(ju)有(you)程序(xu)遠(yuan)程升(sheng)級功能(neng)，根據(ju)客(ke)戶(hu)要求可(ke)以(yi)遠(yuan)程升(sheng)級儀(yi)器程序(xu)。

l 在(zai)各測試(shi)界面下(xia)均可(ke)以(yi)觀(guan)察實時(shi)電(dian)壓(ya)通(tong)道(dao)、電(dian)流(liu)通(tong)道(dao)的波形(xing)情(qing)況(kuang)。

l 可(ke)以(yi)提供各變(bian)壓(ya)器特性測試(shi)時(shi)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)通(tong)道(dao)的諧波情(qing)況(kuang)，並用柱(zhu)狀(zhuang)圖(tu)顯示。

l 通(tong)過(guo)單(dan)壹界面實時(shi)顯(xian)示測試(shi)電(dian)路的(de)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)、頻(pin)率、功(gong)率因(yin)數、有功功(gong)率、無(wu)功功(gong)率、視在(zai)功(gong)率，並可(ke)以(yi)繪制(zhi)向量圖(tu)，以便於判(pan)斷(duan)現(xian)場接線情(qing)況(kuang)。

l 標配特制(zhi)現(xian)場低(di)壓(ya)短(duan)接線，無需螺(luo)絲(si)和扳手(shou)，可(ke)牢(lao)固(gu)短(duan)接被(bei)測變(bian)壓(ya)器接線柱(zhu)，方(fang)便現(xian)場測試(shi)。

l 可(ke)現(xian)場測量多種配變(bian)、電(dian)變(bian)變(bian)壓(ya)器容量(liang)，無(wu)需另(ling)配(pei)電(dian)源，檢(jian)測(ce)更(geng)方便、更(geng)快捷

l 結(jie)合(he)外配電(dian)源以(yi)及調(tiao)壓(ya)、升(sheng)壓(ya)、升(sheng)流(liu)等(deng)設(she)備(bei)，可(ke)測(ce)量各種變(bian)壓(ya)器的空(kong)載(zai)電(dian)流(liu)、空(kong)載(zai)損耗(hao)、阻抗電(dian)壓(ya)、負(fu)載(zai)損耗(hao)等(deng)變(bian)壓(ya)器特性數據(ju)

l 所(suo)有(you)測(ce)試(shi)結果(guo)均自動(dong)進行(xing)了(le)相(xiang)關校正(zheng)。您(nin)只需輸(shu)入相(xiang)關參(can)數（如溫(wen)度(du)、空(kong)載(zai)校正(zheng)系(xi)數等(deng)），儀(yi)器即可(ke)自動(dong)進行(xing)諸(zhu)如：波(bo)形(xing)畸形(xing)校正(zheng)、溫(wen)度(du)校正(zheng)、非(fei)額定(ding)電(dian)壓(ya)校正(zheng)、非(fei)額定(ding)電(dian)流(liu)校正(zheng)等(deng)多(duo)種校正(zheng)，使(shi)測(ce)試(shi)結果(guo)準(zhun)確(que)度(du)更(geng)高

l 變(bian)壓(ya)器特性測量(liang)中(zhong)，電(dian)壓(ya)最(zui)大量程可(ke)達(da)750V，電(dian)流(liu)最(zui)大量程達(da)100A，且(qie)內部配(pei)有(you)保護電(dian)路。測(ce)量時(shi)不(bu)用切(qie)換(huan)檔位既可(ke)保證測(ce)量(liang)精(jing)度(du)，更(geng)不用擔(dan)心因(yin)檔位選錯(cuo)而燒壞(huai)儀(yi)器

l 變(bian)壓(ya)器特性測試(shi)時(shi)，電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)量(liang)程均可(ke)以(yi)非常靈(ling)活、簡便的進(jin)行(xing)擴(kuo)展，只需簡(jian)單(dan)的(de)通(tong)過(guo)外接電(dian)壓(ya)互感器、電(dian)流(liu)互感器即可(ke)，大大加寬了儀(yi)器的測(ce)試(shi)範圍

l 根(gen)據(ju)測(ce)試(shi)結果(guo)中的(de)空(kong)載(zai)、負(fu)載(zai)損耗(hao)，可(ke)自動(dong)推定(ding)三(san)相(xiang)油浸式配(pei)變(bian)、電(dian)變(bian)變(bian)壓(ya)器的性能水平，供工作人員現(xian)場參(can)考(kao)。

二(er)、變(bian)壓(ya)器試(shi)驗術語(yu)與定義(yi)

本(ben)儀(yi)器所(suo)遵(zun)循(xun)的(de)國家相(xiang)關標準(zhun)有：

《GB 1094.1-2013 電(dian)力變(bian)壓(ya)器 第1部(bu)分(fen)：總則》

《GB 1094.5-2008 電(dian)力變(bian)壓(ya)器 第5部(bu)分(fen)：承受短路(lu)的(de)能力(li)》

《GB/T6451-2008 三(san)相(xiang)油浸式電(dian)力變(bian)壓(ya)器技術參(can)數和要求》

《JBT 10318-2002 油浸式非(fei)晶合(he)金(jin)鐵心配(pei)電(dian)變(bian)壓(ya)器 技術參(can)數和要求》

《GB/T 10228-2008  幹(gan)式(shi)電(dian)力變(bian)壓(ya)器技術參(can)數和要求》

《GBT 22072-2008 幹(gan)式(shi)非(fei)晶合(he)金(jin)鐵心配(pei)電(dian)變(bian)壓(ya)器技術參(can)數和要求》

《JB/T 3837-2010變(bian)壓(ya)器類(lei)產品(pin)型(xing)號編制(zhi)方法》

由(you)於變(bian)壓(ya)器容量(liang)測(ce)試(shi)以及特性試(shi)驗等(deng)都(dou)是(shi)比(bi)較(jiao)專業的(de)試(shi)驗，在(zai)試(shi)驗測(ce)試(shi)中，相(xiang)關設(she)置內容和測試(shi)結果(guo)項(xiang)目(mu)比(bi)較(jiao)多。而且由(you)於歷(li)史(shi)遺留原(yuan)因，同壹測試(shi)內容全(quan)國(guo)各地叫(jiao)法不(bu)壹，為了您(nin)能(neng)更(geng)方便對變(bian)壓(ya)器容量(liang)測(ce)試(shi)和特性測試(shi)有壹個(ge)全(quan)面的(de)了解，特將壹些會用到的變(bian)壓(ya)器試(shi)驗術語(yu)和定義列(lie)在(zai)下(xia)面。壹下(xia)內容均摘(zhai)錄自《GB 1094.1-2013》等(deng)國(guo)家標準(zhun)。

1、分(fen)接

   在(zai)帶分接繞組(zu)的變(bian)壓(ya)器中，該(gai)繞組(zu)的每(mei)壹個(ge)分接連(lian)接均表(biao)示該(gai)分接的繞(rao)組有壹個(ge)確(que)定(ding)的有效(xiao)匝數，也(ye)表(biao)示該(gai)分接繞組(zu)與任何(he)其(qi)他繞(rao)組不變(bian)的(de)繞組間(jian)有(you)壹確(que)定(ding)的匝數比(bi)。

2、主分接

   與額定(ding)參(can)數相(xiang)對應的(de)分接。特殊說明(ming)，空(kong)負(fu)載(zai)損耗(hao)以(yi)及空(kong)載(zai)電(dian)流(liu)等(deng)參(can)數均表(biao)示的時(shi)被(bei)測變(bian)壓(ya)器處(chu)於主分接時(shi)的(de)數據(ju)(但另(ling)其(qi)他分(fen)接時(shi)除(chu)外)。

3、有(you)載(zai)分(fen)接開關

   適(shi)合(he)於在(zai)變(bian)壓(ya)器勵磁(ci)或(huo)負載(zai)下(xia)進(jin)行(xing)操作的用來(lai)改變(bian)變(bian)壓(ya)器繞組(zu)分(fen)接連(lian)接位置的壹種裝置。

4、無(wu)勵(li)磁(ci)分接開關

   適(shi)合(he)於只在(zai)變(bian)壓(ya)器無勵(li)磁(ci)(與系統(tong)隔(ge)離(li))時(shi)進(jin)行操作的用來(lai)改變(bian)變(bian)壓(ya)器繞組(zu)分(fen)接連(lian)接位置的壹種裝置

5、空(kong)載(zai)損耗(hao)(俗(su)稱(cheng)：鐵損、鐵芯(xin)損耗(hao))

   當(dang)額定(ding)頻(pin)率下(xia)的(de)額(e)定(ding)電(dian)壓(ya)（分(fen)接電(dian)壓(ya)）施(shi)加(jia)到壹個(ge)繞組(zu)的端子(zi)上(shang)，其(qi)他繞(rao)組開路時(shi)吸(xi)取的有功(gong)功(gong)率。

6、空(kong)載(zai)電(dian)流(liu)

   當(dang)額定(ding)頻(pin)率下(xia)的(de)額(e)定(ding)電(dian)壓(ya)(分(fen)接電(dian)壓(ya))施(shi)加(jia)到壹個(ge)繞組(zu)的端子(zi)上(shang)，其(qi)他繞(rao)組開路時(shi)流(liu)經(jing)該(gai)繞組(zu)線路端子(zi)的(de)電(dian)流(liu)方(fang)均根(gen)值(zhi)。

  註1：對(dui)於三(san)相(xiang)變(bian)壓(ya)器，是流(liu)經(jing)三相(xiang)端子(zi)電(dian)流(liu)的(de)算數平均值(zhi)。

  註2：通(tong)常用占(zhan)該(gai)繞組(zu)額定電(dian)流(liu)的(de)百(bai)分(fen)數來(lai)表示。對於多(duo)繞組(zu)變(bian)壓(ya)器，是以(yi)具(ju)有最大額定容量(liang)的(de)那(na)個(ge)繞組(zu)為基準(zhun)的。

7、負(fu)載(zai)損耗(hao)(又(you)稱(cheng)：短路(lu)損耗(hao)；俗(su)稱(cheng)：銅(tong)損)

   在(zai)壹對繞組中(zhong)，當(dang)額定(ding)電(dian)流(liu)流(liu)經(jing)壹個(ge)繞組(zu)的線路端子(zi)，且(qie)另(ling)壹繞組短路(lu)時(shi)在(zai)額(e)定(ding)頻(pin)率及參(can)考(kao)溫(wen)度(du)下(xia)所(suo)吸(xi)取(qu)的(de)有(you)功(gong)功率。此(ci)時(shi)，其(qi)他繞(rao)組(如果(guo)有)應開路。

   註1：對(dui)於雙(shuang)繞組(zu)變(bian)壓(ya)器，只有壹對繞組組(zu)合(he)和壹個(ge)負載(zai)損耗(hao)值(zhi)。

         對(dui)於多(duo)繞組(zu)變(bian)壓(ya)器，具有(you)與多對(dui)繞(rao)組(zu)組(zu)合(he)相(xiang)對應的(de)多個(ge)負載(zai)損耗(hao)值(zhi)。整臺(tai)變(bian)壓(ya)器的總(zong)負(fu)載(zai)損耗(hao)值(zhi)與某壹的繞組負(fu)載(zai)組(zu)合(he)相(xiang)對應。

   註2：當(dang)繞組(zu)組合(he)中(zhong)兩個(ge)繞組(zu)的額(e)定容量不(bu)同(tong)時(shi)，其(qi)負載(zai)損耗(hao)以(yi)額(e)定容(rong)量小的(de)那(na)個(ge)繞組(zu)中的(de)額定電(dian)流(liu)為基準(zhun)，而且應指出(chu)參(can)考(kao)容(rong)量(liang)。

8、總(zong)損耗(hao)

   空(kong)載(zai)損耗(hao)與負載(zai)損耗(hao)之(zhi)和。

9、短(duan)路(lu)阻抗(也(ye)稱(cheng)：阻抗電(dian)壓(ya))

   通(tong)常情(qing)況(kuang)下(xia)，短(duan)路(lu)阻抗為壹對繞組的(de)短路(lu)阻抗

   在(zai)額(e)定(ding)頻(pin)率及參(can)考(kao)溫(wen)度(du)下(xia)，壹對繞組中(zhong)某壹繞組端子(zi)之(zhi)間(jian)的(de)等(deng)效(xiao)串(chuan)聯(lian)阻抗Z=R+jX(Ω)。確(que)定(ding)此(ci)值(zhi)時(shi)，另(ling)壹繞組的端子(zi)短(duan)路(lu)，而其(qi)他繞(rao)組(如果(guo)有)開路。對於三(san)相(xiang)變(bian)壓(ya)器，表示為每(mei)相(xiang)的阻抗(等(deng)值(zhi)星形(xing)聯(lian)結)。

註1：對(dui)於帶分接繞組(zu)的變(bian)壓(ya)器，短路(lu)阻抗是指分(fen)接的。如無(wu)另(ling)行(xing)規(gui)定，則(ze)是指主分接的。

註2：此(ci)參(can)數可(ke)用無(wu)量(liang)綱的(de)相(xiang)對值(zhi)來(lai)表示，即表示為該(gai)對繞(rao)組中同(tong)壹繞組的參(can)考(kao)阻抗Zref的分(fen)數值(zhi)z。用百(bai)分(fen)數表示：

式(shi)中(zhong)：                  

公(gong)式(shi)對(dui)三相(xiang)和單(dan)相(xiang)變(bian)壓(ya)器都適(shi)用。

U——Z和Z_ref所(suo)屬(shu)繞(rao)組(zu)的(de)電(dian)壓(ya)（額(e)定(ding)電(dian)壓(ya)或(huo)分接電(dian)壓(ya)）；

Sr——額(e)定(ding)容(rong)量基準(zhun)值(zhi)。

此(ci)相(xiang)對值(zhi)也(ye)等(deng)於短(duan)路試(shi)驗中(zhong)為產生相(xiang)應額(e)定電(dian)流(liu)（或(huo)分接電(dian)流(liu)）時(shi)所(suo)施(shi)加(jia)的(de)電(dian)壓(ya)與額定(ding)電(dian)壓(ya)（或(huo)分接電(dian)壓(ya)）之(zhi)比(bi)。此(ci)電(dian)壓(ya)稱(cheng)為該(gai)對繞(rao)組的短(duan)路(lu)電(dian)壓(ya)。通(tong)常用百(bai)分(fen)數表示。

三(san)、技(ji)術參(can)數

1、內置電(dian)源輸(shu)出(chu)範(fan)圍

  電(dian)壓(ya)：0～10V

  電(dian)流(liu)：0～10A

2、特性通(tong)道(dao)測(ce)試(shi)量(liang)程及精(jing)度(du)

  電(dian)壓(ya)量(liang)程：AC 750V。精(jing)度(du)，±0.2%（F.S）±1個(ge)字

  電(dian)流(liu)量(liang)程：AC 100A。精(jing)度(du)，±0.2%（F.S）±1個(ge)字

3、功(gong)率及其(qi)他指標測量(liang)精(jing)度(du)

  功(gong)率：   ±0.5%（F.S）（CosΦ>0.1）,

±1.0%（F.S）（0.02<CosΦ<0.1）

  空(kong)（負(fu)）載(zai)損耗(hao)測(ce)量(liang)：±2%（0.1≤CosΦ≤1）

4、變(bian)壓(ya)器容量(liang)測(ce)試(shi)範圍

      6.3~125000kVA

5、工(gong)作溫(wen)度(du)

  -20℃～+60℃

6、充(chong)電(dian)器電(dian)源要(yao)求

   市(shi)電(dian) AC160V～265V

7、絕緣度(du)

 ⑴、容(rong)量(liang)測(ce)試(shi)、電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)輸(shu)入(ru)點(dian)對機(ji)殼(ke)的絕緣電(dian)阻≥100MΩ

 ⑵、充(chong)電(dian)電(dian)源輸(shu)入(ru)對機(ji)殼(ke)之(zhi)間(jian)承(cheng)受工頻(pin)2kV（有(you)效(xiao)值(zhi)），測試(shi)時(shi)長(chang)1分鐘

8、體(ti)積(ji)

   32cm×25cm×12cm

9、重(zhong)量(liang)

   2.5㎏