產(chan)品(pin)簡介

SFRB-R 變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)測試儀產(chan)品(pin)簡介
SFRB變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)測試儀根據(ju)對(dui)變(bian)壓(ya)器內部(bu)繞組(zu)特(te)征參(can)數(shu)的(de)測量(liang)，采用目前(qian)世界(jie)發(fa)達(da)國家正(zheng)在(zai)開(kai)發(fa)完善(shan)的(de)內部(bu)故(gu)障頻(pin)率(lv)響(xiang)應分(fen)析(xi)（FRA）方法(fa)，能(neng)對(dui)變(bian)壓(ya)器內部(bu)故(gu)障作出(chu)準(zhun)確(que)判斷(duan)。 變(bian)壓(ya)器設計(ji)制(zhi)造完成後，其(qi)線圈(quan)和(he)內部(bu)結(jie)構(gou)就(jiu)確(que)定下(xia)來(lai)，因(yin)此(ci)對(dui)壹臺多繞(rao)組(zu)的(de)變(bian)壓(ya)器線圈(quan)而(er)言，如(ru)果(guo)電(dian)壓(ya)等級(ji)相同、繞制(zhi)方法(fa)相同，則每(mei)個線圈(quan)對(dui)應參(can)數(shu)（Ci、Li）就(jiu)應該是確(que)定的(de)。因此(ci)每(mei)個線圈(quan)的(de)頻(pin)域(yu)特(te)征響(xiang)

SFRB-R 變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)測試儀產(chan)品(pin)簡介

SFRB變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)測試儀根據(ju)對(dui)變(bian)壓(ya)器內部(bu)繞組(zu)特(te)征參(can)數(shu)的(de)測量(liang)，采用目前(qian)世界(jie)發(fa)達(da)國家正(zheng)在(zai)開(kai)發(fa)完善(shan)的(de)內部(bu)故(gu)障頻(pin)率(lv)響(xiang)應分(fen)析(xi)(FRA)方法(fa)，能(neng)對(dui)變(bian)壓(ya)器內部(bu)故(gu)障作出(chu)準(zhun)確(que)判斷(duan)。 變(bian)壓(ya)器設計(ji)制(zhi)造完成後，其(qi)線圈(quan)和(he)內部(bu)結(jie)構(gou)就(jiu)確(que)定下(xia)來(lai)，因(yin)此(ci)對(dui)壹臺多繞(rao)組(zu)的(de)變(bian)壓(ya)器線圈(quan)而(er)言，如(ru)果(guo)電(dian)壓(ya)等級(ji)相同、繞制(zhi)方法(fa)相同，則每(mei)個線圈(quan)對(dui)應參(can)數(shu)(Ci、Li)就(jiu)應該是確(que)定的(de)。因此(ci)每(mei)個線圈(quan)的(de)頻(pin)域(yu)特(te)征響(xiang)應也隨(sui)之確(que)定，對(dui)應的(de)三相線圈(quan)之間(jian)其(qi)頻(pin)率(lv)圖譜(pu)具有(you)壹定可(ke)比性(xing)。

SFRB-R 變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)測試儀

變(bian)壓(ya)器在試驗過(guo)程(cheng)中發(fa)生匝(za)間、相間短路，或(huo)在運(yun)輸過(guo)程中(zhong)發(fa)生沖撞(zhuang)，造成線圈(quan)相對(dui)位(wei)移，以及(ji)運(yun)行過(guo)程中(zhong)在短路和(he)故(gu)障狀(zhuang)態下(xia)因(yin)電(dian)磁(ci)拉(la)力造成線圈(quan)變(bian)形(xing)，就(jiu)會(hui)使變(bian)壓(ya)器繞組(zu)的(de)分(fen)布參(can)數(shu)發(fa)生變(bian)化。進(jin)而(er)影(ying)響(xiang)並(bing)改(gai)變(bian)變(bian)壓(ya)器原(yuan)有(you)的(de)頻(pin)域(yu)特(te)征，即頻(pin)率(lv)響(xiang)應發(fa)生幅(fu)度變(bian)化和(he)諧(xie)振頻(pin)點(dian)偏(pian)移(yi)等。並(bing)根據(ju)響(xiang)應分(fen)析(xi)方法(fa)研(yan)制(zhi)開(kai)發(fa)的(de)SFRB變(bian)壓(ya)器繞組(zu)頻(pin)率(lv)響(xiang)應測試儀，就(jiu)是這樣(yang)壹種新穎(ying)的(de)變(bian)壓(ya)器內部(bu)故(gu)障無損(sun)檢(jian)測設備。它適(shi)用於(yu)63kV～500kV電(dian)力變(bian)壓(ya)器的(de)內部(bu)結(jie)構(gou)故(gu)障檢測。 變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)測試儀是將變(bian)壓(ya)器內部(bu)繞組(zu)參(can)數(shu)在(zai)不同頻(pin)域(yu)的(de)響(xiang)應變(bian)化經(jing)量(liang)化處理後，根據(ju)其(qi)變(bian)化量(liang)值的(de)大(da)小(xiao)、頻(pin)響(xiang)變(bian)化的(de)幅(fu)度、區(qu)域(yu)和(he)頻(pin)響(xiang)變(bian)化的(de)趨勢(shi)，來(lai)確(que)定變(bian)壓(ya)器內部(bu)繞組(zu)的(de)變(bian)化程度，進(jin)而(er)可(ke)以根據(ju)測量(liang)結(jie)果(guo)判(pan)斷(duan)變(bian)壓(ya)器是否已(yi)經(jing)受到嚴重破壞、是否需要(yao)進(jin)行大(da)修(xiu)。 對(dui)於(yu)運(yun)行中(zhong)的(de)變(bian)壓(ya)器而(er)言，無(wu)論過去(qu)是否保(bao)存有頻(pin)域(yu)特(te)征圖，通過比較故(gu)障變(bian)壓(ya)器線圈(quan)間特(te)征圖譜的(de)差異，也可(ke)以(yi)對(dui)故(gu)障程度進(jin)行判(pan)斷(duan)。當(dang)然(ran)，如果(guo)保(bao)存有壹套(tao)變(bian)壓(ya)器原(yuan)有(you)的(de)繞組(zu)特(te)征圖，更易對(dui)變(bian)壓(ya)器的(de)運(yun)行狀(zhuang)況、事(shi)故(gu)後(hou)分(fen)析(xi)和(he)維護(hu)檢修(xiu)提供更為(wei)精確(que)有力的(de)依(yi)據(ju)。 變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)頻(pin)率(lv)響(xiang)應測試儀由(you)筆(bi)記(ji)本(ben)電腦(nao)及(ji)單(dan)片機構成高精度測量(liang)系統(tong),結(jie)構(gou)緊(jin)湊(cou)，操作簡(jian)單(dan)，具有(you)較完備的(de)測試分(fen)析(xi)功能(neng)，對(dui)照(zhao)使用說明(ming)書或(huo)經(jing)過短期培(pei)訓即可自(zi)行操作使用。

產品(pin)特(te)征

1、采集(ji)控(kong)制(zhi)采用高速(su)、高集(ji)成化微處(chu)理器 
2、筆(bi)記(ji)本(ben)電腦(nao)與儀(yi)器(qi)之間(jian)通(tong)信USB接口
3、筆(bi)記(ji)本(ben)電腦(nao)與儀(yi)器(qi)之間(jian)通(tong)信無線藍(lan)牙(ya)接口
4、硬(ying)件(jian)機(ji)芯采用DDS數(shu)字(zi)高速(su)掃頻(pin)技(ji)術(shu)(美國(guo))，通(tong)過(guo)測試可以(yi)準(zhun)確(que)診斷(duan)出(chu)繞(rao)組(zu)發(fa)生扭(niu)曲、鼓包、移位(wei)、傾(qing) 斜(xie)、匝(za)間短(duan)路變(bian)形(xing)及(ji)相間接觸(chu)短路等故(gu)障
5、高分(fen)辨(bian)dB值測量(liang)，雙(shuang)通道(dao)16位(wei)A/D(現(xian)場(chang)試驗改(gai)變(bian)分(fen)接開(kai)關(guan)，即有明(ming)顯(xian)輸出(chu)變(bian)化)
6、信號輸出(chu)幅(fu)度可以(yi)軟(ruan)件(jian)調(tiao)節(jie)，最大(da)幅(fu)度峰值(zhi)±10V
7、計(ji)算(suan)機將檢(jian)測結(jie)果(guo)生成電子(zi)文(wen)檔(Word)
8、選用精密(mi)、高穩(wen)定元(yuan)器(qi)件(jian)，對(dui)同壹相重復(fu)試驗，測量(liang)重復(fu)率(lv)在99.5%以(yi)上(shang)
9、成品電(dian)路板(ban),表(biao)面有(you)特(te)殊處理，具有(you)抗(kang)水(shui)和(he)有害氣(qi)體(ti)汙染(ran)
10、儀器(qi)具有(you)線性(xing)掃頻(pin)測量(liang)和(he)分(fen)段掃(sao)頻(pin)測量(liang)雙(shuang)測量(liang)系統(tong)功能(neng),兼容(rong)當前(qian)國內(nei)兩(liang)種(zhong)技術(shu)流派(pai)的(de)測量(liang)模(mo)式(shi)
11、幅(fu)頻(pin)特(te)性(xing)符(fu)合國家(jia)關於(yu)幅(fu)頻(pin)特(te)性(xing)測試儀的(de)技術(shu)指標。橫坐(zuo)標(biao)（頻(pin)率(lv)）具有(you)線性(xing)分(fen)度及(ji)對(dui)數(shu)分(fen)度兩種(zhong)，因此(ci)打 印出(chu)的(de)曲線可以是線性(xing)分(fen)度曲線也可(ke)以(yi)是對(dui)數(shu)分(fen)度曲線，用戶可(ke)根據(ju)實(shi)際需要(yao)選用
12、檢測數(shu)據(ju)自(zi)動(dong)分(fen)析(xi)系(xi)統(tong),橫向比較A、B 、C三相之間(jian)進(jin)行繞(rao)組(zu)相似(si)性(xing)比較,其結(jie)果(guo)為(wei)：
①*性(xing)很(hen)好(hao)
②*性(xing)較好(hao)
③*性(xing)較差
④*性(xing)很(hen)差
縱向比較A-A、B-B、C-C調(tiao)取原(yuan)數(shu)據(ju)與(yu)當前(qian)數(shu)據(ju)同(tong)相之間(jian)進(jin)行繞(rao)組(zu)變(bian)形(xing)比較，其結(jie)果(guo)為(wei)：
①正常(chang)繞(rao)組(zu)
②輕度變(bian)形(xing)
③中度變(bian)形(xing)
④嚴重變(bian)形(xing)
13、自動(dong)生成Word電子(zi)文(wen)檔，供(gong)保(bao)存和(he)打印
14、*電力標準(zhun)DL/T911－2004《電力變(bian)壓(ya)器繞組(zu)變(bian)形(xing)的(de)頻(pin)率(lv)響(xiang)應分(fen)析(xi)法(fa)》的(de)技術(shu)條(tiao)件(jian)。