產(chan)品簡(jian)介(jie)

HTBX-H 變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀根(gen)據對變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)繞組(zu)特(te)征參(can)數的(de)測(ce)量(liang)，該變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀采(cai)用目前(qian)世(shi)界發達國(guo)家正在開(kai)發完(wan)善的(de)內(nei)部(bu)故(gu)障頻率響應(ying)分(fen)析(xi)（FRA）方法(fa)，能(neng)對變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)故(gu)障作出(chu)準確(que)判(pan)斷(duan)。

HTBX-H 變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀

產(chan)品簡(jian)介(jie) Product Introduction

根據對變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)繞組(zu)特(te)征參(can)數的(de)測(ce)量(liang)，該變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀采(cai)用目前(qian)世(shi)界發達國(guo)家正在開(kai)發完(wan)善的(de)內(nei)部(bu)故(gu)障頻率響應(ying)分(fen)析(xi)(FRA)方法(fa)，能(neng)對變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)故(gu)障作出(chu)準確(que)判(pan)斷(duan)。

變(bian)壓(ya)器(qi)設計制(zhi)造(zao)完(wan)成後(hou)，其(qi)線圈(quan)和(he)內(nei)部(bu)結構(gou)就確(que)定下(xia)來(lai)，因(yin)此(ci)對壹(yi)臺(tai)多(duo)繞組的(de)變(bian)壓(ya)器(qi)線圈(quan)而(er)言(yan)，如(ru)果(guo)電(dian)壓(ya)等(deng)級相同、繞制(zhi)方法(fa)相(xiang)同，則每個線圈(quan)對應(ying)參(can)數(Ci、Li)就應(ying)該是確(que)定的(de)。因(yin)此每個線圈(quan)的(de)頻(pin)域特(te)征響應(ying)也(ye)隨之(zhi)確(que)定，對應(ying)的(de)三(san)相線圈(quan)之(zhi)間(jian)其(qi)頻(pin)率圖譜具(ju)有(you)壹(yi)定可比(bi)性。

變(bian)壓(ya)器(qi)在試驗(yan)過(guo)程(cheng)中(zhong)發生(sheng)匝間(jian)、相間(jian)短路，或在運(yun)輸(shu)過(guo)程(cheng)中(zhong)發生(sheng)沖(chong)撞(zhuang)，造(zao)成線圈(quan)相(xiang)對位移，以(yi)及(ji)運(yun)行過(guo)程(cheng)中(zhong)在短路和(he)故(gu)障狀(zhuang)態(tai)下(xia)因(yin)電(dian)磁拉力(li)造(zao)成線圈(quan)變(bian)形，就會(hui)使(shi)變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組的(de)分(fen)布(bu)參(can)數發生(sheng)變(bian)化(hua)。進而(er)影(ying)響(xiang)並(bing)改(gai)變(bian)變(bian)壓(ya)器(qi)原(yuan)有的(de)頻(pin)域特(te)征，即頻率響應(ying)發生(sheng)幅(fu)度(du)變(bian)化(hua)和諧振頻點偏移等(deng)。並(bing)根(gen)據響應(ying)分(fen)析(xi)方法(fa)研(yan)制(zhi)開(kai)發的(de)HTBX-H變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組頻率響應(ying)測(ce)試儀，就是這樣(yang)壹(yi)種(zhong)新穎的(de)變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)故(gu)障無(wu)損檢測(ce)設備(bei)。它(ta)適(shi)用於(yu)63kV～500kV電力(li)變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)內(nei)部(bu)結構(gou)故(gu)障檢測(ce)。

變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀是將變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)繞組(zu)參(can)數在不(bu)同頻(pin)域的(de)響(xiang)應(ying)變(bian)化(hua)經量(liang)化(hua)處理(li)後(hou)，根(gen)據其(qi)變(bian)化(hua)量(liang)值的(de)大(da)小、頻(pin)響(xiang)變(bian)化(hua)的(de)幅(fu)度(du)、區(qu)域和頻(pin)響變(bian)化(hua)的(de)趨(qu)勢，來(lai)確(que)定變(bian)壓(ya)器(qi)內(nei)部(bu)繞組(zu)的(de)變(bian)化(hua)程(cheng)度(du)，進(jin)而(er)可以(yi)根據測(ce)量(liang)結果(guo)判(pan)斷(duan)變(bian)壓(ya)器(qi)是否已(yi)經(jing)受(shou)到(dao)嚴重(zhong)破壞、是否需(xu)要(yao)進(jin)行大(da)修。

對於(yu)運(yun)行中(zhong)的(de)變(bian)壓(ya)器(qi)而(er)言(yan)，無(wu)論過(guo)去是否保存有(you)頻域特(te)征圖，通(tong)過(guo)比(bi)較(jiao)故(gu)障變(bian)壓(ya)器(qi)線圈(quan)間(jian)特(te)征圖譜的(de)差(cha)異(yi)，也可(ke)以(yi)對故(gu)障程(cheng)度(du)進(jin)行判(pan)斷(duan)。當(dang)然(ran)，如(ru)果(guo)保存有(you)壹(yi)套(tao)變(bian)壓(ya)器(qi)原(yuan)有的(de)繞(rao)組特(te)征圖，更(geng)易(yi)對變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)運(yun)行狀(zhuang)況(kuang)、事(shi)故(gu)後(hou)分(fen)析(xi)和(he)維護(hu)檢修提供更為精(jing)確(que)有(you)力(li)的(de)依(yi)據。

變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形頻(pin)率響應(ying)測(ce)試儀由(you)筆記(ji)本(ben)電(dian)腦(nao)及(ji)單(dan)片機(ji)構(gou)成高精(jing)度(du)測(ce)量(liang)系統,結構(gou)緊(jin)湊(cou)，操作簡(jian)單(dan)，具(ju)有(you)較(jiao)完(wan)備(bei)的(de)測(ce)試分(fen)析功(gong)能(neng)，對照使用說明書(shu)或經(jing)過(guo)短期培訓即可自(zi)行操(cao)作使(shi)用。

產品別(bie)稱：電力變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀、變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形檢測(ce)儀、變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)量(liang)儀、變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形分(fen)析儀

產(chan)品參(can)數 Product Parameters

掃(sao)描方式(shi)：(儀器(qi)具(ju)備(bei)線性掃(sao)頻(pin)測(ce)量(liang)和分(fen)段掃(sao)頻(pin)測(ce)量(liang)雙測(ce)量(liang)系統)

技術(shu)參(can)數

HTBX-H 變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀產(chan)品特(te)征

• 1、變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀采(cai)集控(kong)制(zhi)采(cai)用高速、高集成化(hua)微處理(li)器(qi)。

• 2、筆(bi)記(ji)本(ben)電(dian)腦(nao)與(yu)儀器(qi)之(zhi)間(jian)通(tong)信(xin)USB接(jie)口(kou)

• 3、筆記(ji)本(ben)電(dian)腦(nao)與(yu)儀器(qi)之(zhi)間(jian)通(tong)信(xin)無(wu)線藍(lan)牙(ya)接(jie)口

• 4、硬(ying)件(jian)機(ji)芯采(cai)用DDS數字(zi)高(gao)速掃(sao)頻(pin)技術(shu)(美國(guo))，通(tong)過(guo)測(ce)試可(ke)以(yi)準確(que)診(zhen)斷(duan)出繞組(zu)發生(sheng)扭(niu)曲、鼓包、移位(wei)、傾斜(xie)、匝間(jian)短路變(bian)形及(ji)相(xiang)間(jian)接觸(chu)短路等(deng)故(gu)障

• 5、高分辨dB值測(ce)量(liang)，雙通(tong)道16位A/D(現場(chang)試驗(yan)改變(bian)分接(jie)開(kai)關(guan)，即有明顯(xian)輸(shu)出變(bian)化(hua))

• 6、信號輸(shu)出幅(fu)度(du)可以(yi)軟件(jian)調節(jie)，最大(da)幅(fu)度(du)峰值 10V

• 7、計算(suan)機(ji)將檢測(ce)結果(guo)生(sheng)成電子文檔(dang)(Word)

• 8、選用精(jing)密(mi)、高(gao)穩(wen)定元器(qi)件(jian)，對同壹(yi)相(xiang)重(zhong)復試驗(yan)，測(ce)量(liang)重(zhong)復率在99.5%以(yi)上(shang)

• 9、成品電路板,表面有(you)特(te)殊(shu)處理(li)，具(ju)有(you)抗水和(he)有害氣(qi)體汙染(ran)

• 10、本(ben)公(gong)司(si)生(sheng)產的(de)變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組變(bian)形測(ce)試儀具(ju)有(you)線性掃(sao)頻(pin)測(ce)量(liang)和分(fen)段掃(sao)頻(pin)測(ce)量(liang)雙測(ce)量(liang)系統功(gong)能(neng)，兼(jian)容(rong)當(dang)前(qian)國(guo)內(nei)兩(liang)種(zhong)技術(shu)流派的(de)測(ce)量(liang)模(mo)式(shi)

• 11、幅(fu)頻(pin)特(te)性符(fu)合國(guo)家關(guan)於(yu)幅(fu)頻(pin)特(te)性測(ce)試儀的(de)技術(shu)指(zhi)標(biao)。橫(heng)坐(zuo)標(biao)(頻率)具(ju)有(you)線性分(fen)度及(ji)對數分(fen)度(du)兩種(zhong)，因此打印出(chu)的(de)曲線可(ke)以(yi)是線性分(fen)度曲線也(ye)可(ke)以(yi)是對數分(fen)度(du)曲線，用戶可根據實際(ji)情況(kuang)選(xuan)用