產(chan)品(pin)簡介(jie)

HTHL-200P 高精(jing)度回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀
電力(li)、供(gong)電部門(men)現場高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)維修和(he)高壓(ya)開(kai)關(guan)廠回路(lu)電阻(zu)測(ce)試的設備(bei)
參考標(biao)準：DL/T845.4-2004
電流可(ke)在50A，100A，150A，200A中自由選(xuan)擇，100A、200A的情況下(xia)直(zhi)接(jie)測(ce)得(de)回路(lu)電阻(zu)
電源技術(shu)，能長時(shi)間(jian)連(lian)續輸出(chu)大(da)電流
高頻(pin)開(kai)關(guan)電源技術(shu)和(he)數字電路(lu)技術(shu)相(xiang)結(jie)合(he)設計

HTHL-200P 高(gao)精(jing)度回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品(pin)簡介(jie)

目(mu)前(qian)，電力(li)系(xi)統中普遍(bian)采用(yong)常(chang)規(gui)的QJ44型雙臂(bi)直流電橋(qiao)測(ce)量接(jie)觸(chu)電阻(zu)，而(er)這類(lei)電橋(qiao)的測(ce)試電流僅(jin)m*，難(nan)以(yi)發(fa)現回路(lu)導體(ti)截(jie)面(mian)積(ji)減(jian)少的缺陷(xian)。在測(ce)量高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)導電回路(lu)接(jie)觸(chu)電阻(zu)時(shi)，由於(yu)受(shou)觸(chu)頭(tou)之(zhi)間(jian)油(you)膜(mo)和(he)氧化(hua)層(ceng)的影響，測(ce)量值(zhi)偏大(da)若(ruo)幹(gan)倍(bei)，無(wu)法(fa)真(zhen)實(shi)的反(fan)映接(jie)觸(chu)電阻(zu)值(zhi)。為此，電力(li)部標(biao)準DL/T845.4—2004《電阻(zu)測(ce)量裝(zhuang)置通(tong)用(yong)技術(shu)條件(jian)：回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀》和(he)新(xin)版檢(jian)定(ding)規(gui)程JJG1052-2009《回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀、直(zhi)阻(zu)儀檢(jian)定(ding)規(gui)程》作出(chu)對測(ce)量（隔(ge)離）開(kai)關(guan)、斷(duan)路(lu)器(qi)等(deng)接(jie)觸電阻(zu)的測(ce)量電流不小(xiao)於直(zhi)流100A，zui小(xiao)電流維持(chi)時(shi)間不低於60S的規定(ding)，確保試(shi)驗(yan)結(jie)果(guo)準確。

本儀器(qi)操作面(mian)板(ban)采用(yong)人(ren)體(ti)工(gong)學設計，符合(he)操作習(xi)慣(guan)，采用(yong)高(gao)頻(pin)開(kai)關(guan)電源和(he)數字電路(lu)技術(shu)，適(shi)用(yong)於(yu)開(kai)關(guan)控制設備(bei)回路(lu)電阻(zu)的測(ce)量。測(ce)試電流采用(yong)國(guo)家標(biao)準推(tui)薦的直流100A和(he)200A。可(ke)在直(zhi)流100A和(he)200A的情況下(xia)直(zhi)接(jie)測(ce)得(de)回路(lu)電阻(zu)，測(ce)試結(jie)果(guo)用(yong)大(da)屏(ping)幕(mu)液(ye)晶LCD顯(xian)示，並有(you)數據(ju)存(cun)儲(chu)、輸(shu)出(chu)打(da)印、時(shi)間設置等(deng)功(gong)能，另有(you)50A、150A檔位(wei)供用(yong)戶選(xuan)擇；自定(ding)義測(ce)試時(shi)間(jian)，zui大(da)設定(ding)時(shi)間599S,大(da)於(yu)標(biao)準規定(ding)的60S；是國(guo)內(nei)*能達到0.01μΩ分(fen)辨(bian)率(lv)且(qie)十(shi)分(fen)穩(wen)定(ding)的接觸電阻(zu)測(ce)試儀，性(xing)能超過進口(kou)大(da)電流微歐計。符合(he)電力(li)、供(gong)電部門(men)現場高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)維修和(he)高壓(ya)開(kai)關(guan)廠回路(lu)電阻(zu)測(ce)試的要求。

HTHL-200P 高(gao)精(jing)度回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品(pin)別稱(cheng)

接(jie)觸(chu)電阻(zu)測(ce)試儀、開(kai)關(guan)回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀、接(jie)觸(chu)回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀、接(jie)觸(chu)(回路(lu))電阻(zu)測(ce)試儀

HTHL-200P 產(chan)品(pin)特(te)征

1、大(da)電流：采用(yong)電源技術(shu)，能長時(shi)間(jian)連(lian)續輸出(chu)大(da)電流，克服了脈(mai)沖(chong)式電源瞬(shun)間(jian)電流的弊端，可(ke)以(yi)有(you)效的擊(ji)穿(chuan)開(kai)關(guan)觸頭(tou)氧(yang)化(hua)膜(mo)，得(de)到(dao)良(liang)好(hao)的測(ce)試結(jie)果(guo)； 
2、高(gao)穩(wen)定(ding)性(xing)：在嚴重幹(gan)擾條件(jian)下，液(ye)晶屏zui後壹(yi)位(wei)數據(ju)能穩定(ding)在±1個(ge)字範(fan)圍(wei)內(nei)，讀(du)數穩定(ding)，重復(fu)性(xing)好(hao)； 
3、高精(jing)度：采用(yong)雙(shuang)路高速(su)16位(wei)Σ－ΔAD采樣(yang)，數字信(xin)號處(chu)理技術(shu)，zui高(gao)分(fen)辨(bian)力(li)達(da)到(dao)0.01μΩ，是目(mu)前(qian)國(guo)內(nei)*能達到0.01μΩ分(fen)辨(bian)力(li)且(qie)十(shi)分(fen)穩(wen)定(ding)的接觸電阻(zu)測(ce)試儀，性(xing)能超過了進(jin)口大(da)電流微歐計； 
4、智(zhi)能化：使用(yong)進(jin)口高性(xing)能CPU，測(ce)量時(shi)系(xi)統(tong)根據(ju)信(xin)號大(da)小(xiao)自動(dong)切(qie)換(huan)量(liang)程(cheng)，確保了該(gai)產(chan)品的測(ce)試準確度。過溫保護電路(lu)能夠在儀器(qi)超過設定(ding)溫(wen)度時自動(dong)停止(zhi)輸(shu)出(chu)電流，確保儀器(qi)的安全使用(yong)； 
5、高(gao)品(pin)質：關鍵部件(jian)全(quan)部采用(yong)進(jin)口元(yuan)件，通過(guo)巧妙設計的溫度補償電路(lu)有(you)效的消(xiao)除環境(jing)溫度對測(ce)量結(jie)果(guo)的影響，接插件(jian)的使用(yong)增(zeng)強(qiang)了抗(kang)振(zhen)性(xing)能； 
6、能強(qiang)大(da)：電流可(ke)在50A，100A，150A，200A中自由選(xuan)擇，測(ce)試時(shi)間(jian)可(ke)在5s～599s內(nei)任(ren)意設定(ding)，克服了其(qi)他同類(lei)儀器(qi)無(wu)法(fa)設定(ding)測(ce)量時(shi)間(jian)或連(lian)續工作(zuo)時間(jian)過短(duan)的缺陷(xian)，遠遠超過(guo)了其(qi)他同類(lei)儀器(qi)的性(xing)能 7、人(ren)機(ji)界面(mian)友(you)好：通(tong)過(guo)旋(xuan)轉鼠(shu)標輸(shu)入數據(ju)，方(fang)便快捷(jie)，可(ke)以(yi)自主設置儀器(qi)日期、時間(jian)，實(shi)時保存測(ce)量數據(ju)，即(ji)時(shi)打(da)印測(ce)量結(jie)果(guo)； 
8、USB轉(zhuan)存(cun)：通(tong)過(guo)USB接口將(jiang)測(ce)量數據(ju)轉(zhuan)存(cun)到(dao)U盤，結(jie)合(he)上(shang)位(wei)機(ji)軟(ruan)件對測(ce)量數據(ju)進(jin)壹(yi)步分(fen)析(xi)處(chu)理； 
9、使用(yong)方(fang)便：體(ti)積(ji)小(xiao)、重量(liang)輕，便於攜(xie)帶。