產(chan)品簡(jian)介

HTHL-100P高(gao)精度(du)回路(lu)電(dian)阻測試儀
電(dian)力、供(gong)電(dian)部門現場(chang)高(gao)壓(ya)開關(guan)維(wei)修和高(gao)壓(ya)開關(guan)廠(chang)回路(lu)電(dian)阻測試的設備
參考(kao)標(biao)準(zhun)：DL/T845.4-2004
電(dian)流可在50A、100A中(zhong)自由選(xuan)擇(ze)，測試時(shi)間可在5s～599s內任意(yi)設定
電(dian)源技術，能(neng)長(chang)時(shi)間連(lian)續(xu)輸(shu)出大(da)電(dian)流
高(gao)頻開關(guan)電(dian)源技術和(he)數(shu)字(zi)電(dian)路技術相(xiang)結合設(she)計(ji)

HTHL-100P高(gao)精度(du)回路(lu)電(dian)阻測試儀產(chan)品簡(jian)介

目(mu)前(qian)，電(dian)力系統(tong)中(zhong)普遍采用(yong)常規的QJ44型(xing)雙(shuang)臂(bi)直(zhi)流電(dian)橋測量接觸(chu)電(dian)阻，而這(zhe)類電(dian)橋的測試電(dian)流僅m*，難(nan)以(yi)發現回路(lu)導(dao)體截面(mian)積減(jian)少(shao)的缺陷(xian)。在測量高(gao)壓(ya)開關(guan)導(dao)電(dian)回路(lu)接觸(chu)電(dian)阻時(shi)，由於受(shou)觸(chu)頭(tou)之(zhi)間(jian)油(you)膜和(he)氧化層的影響，測量(liang)值(zhi)偏大(da)若(ruo)幹(gan)倍(bei)，無法(fa)真實(shi)的(de)反(fan)映(ying)接觸(chu)電(dian)阻值(zhi)。為(wei)此，電(dian)力部標(biao)準(zhun)DL/T845.4—2004《電(dian)阻測量裝(zhuang)置(zhi)通用(yong)技術(shu)條(tiao)件：回路(lu)電(dian)阻測試儀》和(he)新版(ban)檢定規程JJG1052-2009《回路(lu)電(dian)阻測試儀、直(zhi)阻(zu)儀檢定規程》作(zuo)出(chu)對測量（隔(ge)離(li)）開關(guan)、斷路器(qi)等(deng)接觸(chu)電(dian)阻的測量(liang)電(dian)流不(bu)小於直(zhi)流100A，zui小電(dian)流維持(chi)時(shi)間不(bu)低於60S的規定，確(que)保(bao)試驗結果(guo)準(zhun)確(que)。

本(ben)儀器(qi)操(cao)作(zuo)面(mian)板(ban)采用(yong)人體工(gong)學(xue)設(she)計(ji)，符(fu)合操(cao)作(zuo)習慣(guan)，采用(yong)高(gao)頻開關(guan)電(dian)源和數(shu)字(zi)電(dian)路技術，適(shi)用(yong)於開關(guan)控(kong)制(zhi)設(she)備(bei)回路(lu)電(dian)阻的測量(liang)。測試電(dian)流采用(yong)國家標(biao)準(zhun)推薦(jian)的直(zhi)流100A。可在直(zhi)流100A的情(qing)況(kuang)下(xia)直(zhi)接測(ce)得回路(lu)電(dian)阻，測試結果(guo)用(yong)大屏幕液晶(jing)LCD顯示(shi)，並(bing)有(you)數(shu)據存儲(chu)、輸(shu)出打(da)印、時(shi)間設(she)置(zhi)等功(gong)能(neng)，另(ling)有(you)50A檔位(wei)供(gong)用(yong)戶選(xuan)擇(ze)；自(zi)定義測試時(shi)間，zui大(da)設定時(shi)間599S,遠(yuan)大(da)於標(biao)準(zhun)規定的60S；是國內(nei)*能達到(dao)0.01μΩ分(fen)辨率且十分(fen)穩(wen)定的接觸(chu)電(dian)阻測試儀，性(xing)能(neng)超過(guo)進口大電(dian)流微歐(ou)計。符(fu)合電(dian)力、供(gong)電(dian)部門現場(chang)高(gao)壓(ya)開關(guan)維(wei)修和高(gao)壓(ya)開關(guan)廠(chang)回路(lu)電(dian)阻測試的要求。

HTHL-100P高(gao)精度(du)回路(lu)電(dian)阻測試儀產(chan)品別稱(cheng)

接觸(chu)電(dian)阻測試儀、開關(guan)回路(lu)電(dian)阻測試儀、接觸(chu)回路(lu)電(dian)阻測試儀、接觸(chu)(回路(lu))電(dian)阻測試儀

HTHL-100P產(chan)品特征
1、大(da)電(dian)流：采用(yong)電(dian)源技術，能(neng)長(chang)時(shi)間連(lian)續(xu)輸(shu)出大(da)電(dian)流，克(ke)服了脈(mai)沖(chong)式(shi)電(dian)源瞬間電(dian)流的弊(bi)端(duan)，可以(yi)有(you)效(xiao)的(de)擊(ji)穿開關(guan)觸(chu)頭(tou)氧化膜，得(de)到(dao)良(liang)好(hao)的(de)測(ce)試結果(guo)； 
2、高(gao)穩(wen)定性：在嚴(yan)重(zhong)幹(gan)擾(rao)條(tiao)件下，液(ye)晶(jing)屏zui後壹(yi)位數(shu)據能穩(wen)定在±1個字(zi)範圍(wei)內，讀數(shu)穩(wen)定，重(zhong)復性； 
3、高(gao)精度(du)：采(cai)用(yong)雙路(lu)高(gao)速16位(wei)Σ－ΔAD采(cai)樣(yang)，數(shu)字(zi)信號(hao)處理技(ji)術，zui高(gao)分辨力達(da)到(dao)0.01μΩ，是(shi)目(mu)前(qian)國內(nei)*能達(da)到(dao)0.01μΩ分(fen)辨力且十分(fen)穩(wen)定的接觸(chu)電(dian)阻測試儀，性(xing)能(neng)超(chao)過(guo)了(le)進口大電(dian)流微歐(ou)計； 
4、智能化：使(shi)用(yong)進口高(gao)性能CPU，測量(liang)時(shi)系統(tong)根(gen)據信號(hao)大小(xiao)自動(dong)切(qie)換(huan)量(liang)程，確(que)保(bao)了(le)該(gai)產(chan)品的測試準(zhun)確(que)度(du)。過(guo)溫(wen)保(bao)護(hu)電(dian)路能夠在儀器(qi)超(chao)過(guo)設(she)定溫度(du)時(shi)自動(dong)停(ting)止(zhi)輸(shu)出電(dian)流，確(que)保(bao)儀器(qi)的(de)安(an)全(quan)使(shi)用(yong)； 
5、高(gao)品質：關鍵(jian)部(bu)件全部(bu)采用(yong)進口元(yuan)件，通過(guo)巧(qiao)妙(miao)設(she)計的(de)溫(wen)度(du)補(bu)償電(dian)路有(you)效(xiao)的(de)消除環(huan)境(jing)溫度(du)對測量結(jie)果(guo)的影(ying)響，接插(cha)件的使(shi)用(yong)增強(qiang)了(le)抗振(zhen)性能(neng)； 
6、功(gong)能(neng)強(qiang)大(da)：電(dian)流可在50A，100A中(zhong)自由選(xuan)擇(ze)，測試時(shi)間可在5s～599s內任意(yi)設定，克(ke)服了其他同類儀器(qi)無法(fa)設(she)定測量時(shi)間或(huo)連(lian)續(xu)工(gong)作(zuo)時(shi)間過(guo)短(duan)的(de)缺陷(xian)，遠(yuan)遠(yuan)超(chao)過(guo)了(le)其(qi)他同類儀器(qi)的(de)性(xing)能(neng)； 
7、人(ren)機(ji)界面(mian)友(you)好(hao)：通(tong)過(guo)旋(xuan)轉(zhuan)鼠(shu)標(biao)輸(shu)入(ru)數(shu)據，方便快捷(jie)，可以(yi)自主設置(zhi)儀器(qi)日(ri)期(qi)、時(shi)間，實(shi)時(shi)保(bao)存測(ce)量(liang)數(shu)據，即時(shi)打印(yin)測量(liang)結果(guo)； 
8、USB轉(zhuan)存：通(tong)過(guo)USB接口(kou)將(jiang)測量(liang)數(shu)據轉存到(dao)U盤，結合上位機(ji)軟件對測量數(shu)據進壹(yi)步分析(xi)處理； 
9、該(gai)儀器(qi)使(shi)用(yong)方便：體積小、重(zhong)量輕，便(bian)於攜帶。