WOJ-III系(xi)列(lie)回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)是根(gen)據中(zhong)華人民共和(he)國新電(dian)力(li)執行(xing)標(biao)準(zhun)DL/T845.4-2004，采(cai)用高頻(pin)開(kai)關電(dian)源技(ji)術和(he)數字(zi)電(dian)路技(ji)術相(xiang)結合(he)設計而成(cheng)。它(ta)適(shi)用於開(kai)關控制(zhi)設備(bei)回(hui)路電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)。

HLC5501回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)適(shi)用於測試(shi)高(gao)低(di)壓開(kai)關的主(zhu)觸(chu)頭接觸(chu)電(dian)阻(zu)值，高低(di)壓電(dian)纜線(xian)路的(de)直流電(dian)阻(zu)值等(deng)。該回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)采(cai)100A/200A恒(heng)流輸出。

HTHL-200A 回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)目前，接觸(chu)電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)電(dian)力(li)系統中(zhong)普(pu)遍(bian)采(cai)用常規的QJ44型雙(shuang)臂(bi)直流電(dian)橋(qiao)，而這(zhe)類(lei)電(dian)橋(qiao)的測(ce)試(shi)電(dian)流僅m*，難以(yi)發(fa)現回(hui)路導(dao)體截面(mian)積(ji)減少(shao)的缺(que)陷，在(zai)測(ce)量高壓開(kai)關導電(dian)回(hui)路接觸(chu)電(dian)阻(zu)時(shi)，由於(yu)受(shou)觸(chu)頭之間(jian)油膜(mo)和(he)氧化(hua)層的(de)影響(xiang)，測(ce)量(liang)值偏(pian)大(da)若幹(gan)倍(bei)，無法真(zhen)實(shi)的反映接觸(chu)電(dian)阻(zu)值。

HTHL-100P 高(gao)精(jing)度回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)采(cai)用高頻(pin)開(kai)關電(dian)源和(he)數字(zi)電(dian)路技(ji)術，適(shi)用於開(kai)關控制(zhi)設備(bei)回(hui)路電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)。測(ce)試(shi)電(dian)流采(cai)用國家標(biao)準(zhun)推(tui)薦(jian)的(de)直流100A。可(ke)在(zai)直流100A的情況(kuang)下直接測得(de)回(hui)路電(dian)阻(zu)。

HTHL-100B 回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)（固定(ding)檔(dang)位）其(qi)測試(shi)電(dian)流采(cai)用國家標(biao)準(zhun)推(tui)薦(jian)的(de)直流50A和(he)100A。可(ke)在(zai)電(dian)流50A的情況(kuang)下直接測得(de)回(hui)路電(dian)阻(zu)，也(ye)可(ke)以(yi)在(zai)電(dian)流100A的情況(kuang)下直接測得(de)回(hui)路電(dian)阻(zu)，最後的測試(shi)結果(guo)都(dou)用數字顯示(shi)出來(lai)。

HTHL-100A 回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)目前，接觸(chu)電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)電(dian)力(li)系統中(zhong)普(pu)遍(bian)采(cai)用常規的QJ44型雙(shuang)臂(bi)直流電(dian)橋(qiao)，而這(zhe)類(lei)電(dian)橋(qiao)的測(ce)試(shi)電(dian)流僅m*，難以(yi)發(fa)現回(hui)路導(dao)體截面(mian)積(ji)減少(shao)的缺(que)陷，在(zai)測(ce)量高壓開(kai)關導電(dian)回(hui)路接觸(chu)電(dian)阻(zu)時(shi)，由於(yu)受(shou)觸(chu)頭之間(jian)油膜(mo)和(he)氧化(hua)層的(de)影響(xiang)，測(ce)量(liang)值偏(pian)大(da)若幹(gan)倍(bei)，無法真(zhen)實(shi)的反映接觸(chu)電(dian)阻(zu)值。