RK9930AY醫(yi)用接(jie)地電阻(zu)測試(shi)儀均(jun)采用高速(su)MCU和大規模(mo)數字(zi)電路(lu)設計的(de)高性能的(de)安規(gui)測試(shi)儀，輸出電流(liu)采用硬件反(fan)饋(kui)、高速(su)MCU控(kong)制技術，使(shi)輸出電流(liu)穩定可靠(kao)。輸出電流(liu)采用DDS+功放驅動(dong)輸出，輸出波(bo)形(xing)純(chun)凈(jing)失(shi)真小(xiao)。

RK9930Y醫(yi)用接(jie)地電阻(zu)測試(shi)儀均(jun)采用高速(su)MCU和大規模(mo)數字(zi)電路(lu)設計的(de)高性能的(de)安規(gui)測試(shi)儀，輸出電流(liu)采用硬件反(fan)饋(kui)、高速(su)MCU控(kong)制技術，使(shi)輸出電流(liu)穩定可靠(kao)。輸出電流(liu)采用DDS+功放驅動(dong)輸出，輸出波(bo)形(xing)純(chun)凈(jing)失(shi)真小(xiao)。

RK2681N絕緣電阻(zu)測試(shi)儀是按(an)照IEC、BS、UL等(deng)國(guo)際國(guo)內的(de)安全標準(zhun)要求(qiu)而(er)設計，測(ce)試(shi)電壓分(fen)為DC 500V和DC1000V兩(liang)檔(dang)，絕緣電阻(zu)從0. 5MΩ～2000MΩ分(fen)為四檔(2MΩ、20MΩ、200MΩ和2000MΩ）。

RK2683BN絕緣電阻(zu)測試(shi)儀是能夠快速測量(liang)電子(zi)元器(qi)件(jian)、介(jie)質(zhi)材(cai)料、設備和電線(xian)電纜(lan)等(deng)絕緣性能的(de)測試(shi)儀器(qi)，它(ta)具備絕緣電阻(zu)漏電流(liu)雙測(ce)試顯(xian)示(shi)功(gong)能。

RK2683AN絕緣電阻(zu)測試(shi)儀是能夠快速測量(liang)電子(zi)元器(qi)件(jian)、介(jie)質(zhi)材(cai)料、設備和電線(xian)電纜(lan)等(deng)絕緣性能的(de)測試(shi)儀器(qi)，它(ta)具備絕緣電阻(zu)漏電流(liu)雙測(ce)試顯(xian)示(shi)功(gong)能。

RK7305程(cheng)控(kong)接(jie)地電阻(zu)測試(shi)儀是用(yong)來測量(liang)電氣設備內(nei)部的(de)接(jie)地電阻(zu)，它(ta)所(suo)反(fan)映(ying)的(de)電氣設備的(de)各(ge)處外(wai)露(lu)可導(dao)部(bu)分(fen)與電氣設備的(de)總接(jie)地端子(zi)之(zhi)間的(de)（ 接(jie)觸(chu)） 電阻(zu)。