HTYM-S手持式(shi)激光鹽(yan)密(mi)灰密(mi)測試儀

壹、產(chan)品概述(shu)

1.1  引(yin)言

在電(dian)網系(xi)統中(zhong)，電(dian)壓等(deng)級(ji)高、輸送容量(liang)大的(de)變(bian)電(dian)站(zhan)和(he)輸電(dian)線(xian)路起(qi)著十分(fen)重要的(de)作用。而在輸電(dian)線(xian)路經(jing)過的(de)地區，工(gong)業(ye)汙(wu)穢、海風的(de)鹽(yan)霧(wu)、空氣中(zhong)的(de)塵(chen)埃等(deng)汙(wu)穢物(wu)逐(zhu)漸(jian)積累(lei)並(bing)附著在絕緣子表(biao)面，極(ji)易形(xing)成汙(wu)穢層(ceng)，由於(yu)汙(wu)穢絕緣子的(de)絕緣強(qiang)度(du)大(da)大降低，引(yin)起(qi)絕緣子在正常(chang)運(yun)行電(dian)壓下閃絡，造(zao)成大(da)面積停(ting)電(dian)，形(xing)成汙(wu)閃事(shi)故(gu)。

汙(wu)閃事(shi)故(gu)不同於壹般單(dan)純(chun)的(de)設(she)備(bei)事(shi)故(gu)，它(ta)涉及面(mian)廣、影響設(she)備(bei)多(duo)且(qie)分(fen)散。現(xian)階(jie)段我(wo)國電(dian)力(li)系(xi)統的(de)網架(jia)尚(shang)比(bi)較(jiao)薄(bo)弱(ruo)，多(duo)次汙(wu)閃跳(tiao)閘即有(you)可能帶來(lai)整(zheng)個(ge)系(xi)統的(de)崩潰，造成大(da)面積、多(duo)設備(bei)的(de)連鎖(suo)事(shi)故(gu)。

因(yin)此，在設計(ji)建(jian)造電(dian)網系(xi)統前，應(ying)首(shou)先(xian)測定(ding)外(wai)絕緣子表(biao)面的(de)汙(wu)穢程(cheng)度(du)以(yi)確定(ding)所在區域(yu)的(de)汙(wu)穢等(deng)級(ji)，據(ju)此選擇(ze)合適的(de)外(wai)絕緣爬(pa)電(dian)比距(ju)；對於(yu)已(yi)經(jing)投(tou)入(ru)使用的(de)高(gao)壓(ya)輸電(dian)線(xian)路、發(fa)電(dian)廠、變(bian)電(dian)站(zhan)等(deng)場所的(de)外(wai)絕緣設備(bei)，應當保證(zheng)每(mei)年至(zhi)少檢(jian)測(ce)壹次其(qi)表(biao)面汙(wu)穢程(cheng)度(du)，以(yi)衡量(liang)是(shi)否(fou)可能引(yin)起(qi)汙(wu)閃事(shi)故(gu)，作為判(pan)斷(duan)外(wai)絕緣設備(bei)是否(fou)需(xu)要清洗(xi)或更(geng)換的(de)依(yi)據(ju)。通(tong)過以(yi)上(shang)途徑(jing)，使汙(wu)閃事(shi)故(gu)率降(jiang)低到可接受的(de)程(cheng)度(du)，最(zui)大限(xian)度(du)降(jiang)低汙(wu)閃事(shi)故(gu)對國(guo)民(min)經(jing)濟(ji)的(de)影(ying)響(xiang)。

由(you)於(yu)絕緣子表(biao)面的(de)汙(wu)穢包含(han)溶(rong)性(xing)成分(fen)和(he)不溶(rong)性(xing)成分(fen)，其中(zhong)灰(hui)密(mi)度(du)（NSDD）是(shi)指(zhi)絕緣子表(biao)面層(ceng)汙(wu)穢中(zhong)的(de)不可溶(rong)成分(fen)與表(biao)面積的(de)比(bi)值(zhi)，不同於汙(wu)穢中(zhong)的(de)可(ke)溶(rong)性(xing)成分(fen)（用等(deng)值鹽密度(du)ESDD衡(heng)量），由於汙(wu)穢度(du)中(zhong)鹽(yan)密(mi)和(he)灰密(mi)之(zhi)間(jian)的(de)關(guan)系(xi)在5—10倍分(fen)散，相同等(deng)值鹽密不同灰密的(de)絕緣子可能處於(yu)不同汙(wu)穢等(deng)級(ji)，故(gu)汙(wu)穢等(deng)級(ji)的(de)確認需(xu)要等(deng)值鹽密度(du)和(he)灰密(mi)度(du)組(zu)合才可確定(ding)，只有(you)進(jin)行灰密(mi)測量(liang)才能正確地確定(ding)汙(wu)穢等(deng)級(ji)。

我(wo)公司(si)根(gen)據(ju)電(dian)力(li)行業(ye)防(fang)治(zhi)汙(wu)閃的(de)要求，結合電(dian)網汙(wu)穢劃分(fen)等(deng)級(ji)新標準(zhun)，根據(ju)客戶(hu)需(xu)求設(she)計(ji)研(yan)發了(le)XXX 手持式(shi)激光鹽(yan)密(mi)灰密(mi)測試儀，操作簡單(dan)、功(gong)能齊全(quan)，得到(dao)了(le)行業(ye)客戶(hu)的(de)壹致(zhi)認可(ke)。

1.2  儀器介紹(shao)

HTYM-S手(shou)持式(shi)激光鹽(yan)密(mi)灰密(mi)測試儀采用新型(xing)檢(jian)測(ce)技術將灰密測試與鹽密(mi)測(ce)試合二(er)為壹，可(ke)同時(shi)檢(jian)測(ce)出(chu)被(bei)測絕緣子的(de)灰(hui)密(mi)度(du)和(he)鹽密(mi)度(du)，簡(jian)化了(le)絕緣子汙(wu)穢檢(jian)測(ce)的(de)流(liu)程(cheng)，非常(chang)適合在巡(xun)檢(jian)現(xian)場(chang)和(he)實(shi)驗室(shi)使(shi)用(yong)。

1.3  依(yi)據(ju)標(biao)準(zhun)

XXX 手(shou)持式(shi)激光鹽(yan)密(mi)灰密(mi)測試儀依(yi)據(ju)的(de)相關標準(zhun)如下表(biao)所示(shi)：

1.4  判(pan)斷(duan)依據(ju)

Q/GDW1152.1-2014《電(dian)力(li)系(xi)統汙(wu)區分(fen)級(ji)與外(wai)絕緣選擇(ze)標(biao)準(zhun)》中(zhong)規定(ding)汙(wu)穢等(deng)級(ji)與等(deng)值鹽密的(de)關(guan)系(xi)如下表(biao)：

1.5  術語(yu)解釋(shi)

灰(hui)密(mi)度(du)（NSDD）: 絕緣子單(dan)位(wei)絕緣表(biao)面上(shang)清洗(xi)的(de)非(fei)可(ke)溶(rong)殘(can)留(liu)物(wu)除以(yi)表(biao)面積，壹般表(biao)示為mg/ cm²。

附(fu)鹽(yan)密度(du)（SDD）: 人(ren)工(gong)塗(tu)覆於給(gei)定(ding)絕緣子表(biao)面（不包括金屬部(bu)件(jian)和(he)裝配(pei)材料）上(shang)的(de)氯(lv)化鈉(na)總(zong)量除以(yi)表(biao)面積，

壹般表(biao)示為mg/ cm²。

等(deng)值附鹽密度(du)（ESDD）: 絕緣子單(dan)位(wei)絕緣表(biao)面上(shang)的(de)等(deng)值附鹽量，壹般表(biao)示為mg/ cm²。

爬(pa)電(dian)距離 : 在兩個導電(dian)部(bu)分(fen)之(zhi)間(jian)，沿絕緣體表(biao)面的(de)最(zui)短(duan)距離。

統(tong)壹爬(pa)電(dian)距離（USCD）: 絕緣子的(de)爬(pa)電(dian)距離L除以(yi)試驗(yan)電(dian)壓與                                               的(de)積，壹般表(biao)示為mm/kV。

汙(wu)穢層(ceng) : 由(you)鹽(yan)和(he)惰性(xing)材料組(zu)成的(de)絕緣子表(biao)面上(shang)的(de)導(dao)電(dian)電(dian)解層(ceng)。

現(xian)場(chang)汙(wu)穢度(du)等(deng)級(ji) : 將汙(wu)穢嚴重(zhong)程(cheng)度(du)從(cong)非常(chang)輕到非(fei)常(chang)嚴重(zhong)按(an)SPS（ESDD/NSDD的(de)最(zui)大(da)值）的(de)分(fen)級(ji)。

二(er)、產(chan)品信(xin)息

2.1   主(zhu)要特(te)點

Ø  內置測(ce)試專(zhuan)用(yong)測試軟(ruan)件(jian)，鹽密(mi)灰密壹體(ti)化完(wan)成測(ce)試；

Ø  嵌入(ru)式(shi)操(cao)作，直(zhi)觀快(kuai)捷(jie)的(de)人(ren)機(ji)交互界面，參(can)數可靈活設(she)置(zhi)；

Ø  全(quan)自(zi)動壹體(ti)化燒杯(bei)式(shi)測(ce)試方案(an)，按(an)要求配(pei)置好(hao)溶(rong)液(ye)後(hou)，采用人(ren)工(gong)攪拌(ban)的(de)方式(shi)，並(bing)插(cha)入(ru)專用電(dian)極采集信(xin)號；

Ø  手(shou)持式(shi)設(she)計(ji)，便於現場測(ce)試或(huo)實(shi)驗室(shi)使(shi)用(yong)；

Ø  采用激光反射(she)式(shi)測(ce)量(liang)原(yuan)理(li)，實(shi)現灰密(mi)直(zhi)接測(ce)試，無(wu)需(xu)過濾(lv)、烘幹稱(cheng)量(liang)；

Ø  智(zhi)能化數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)，測試結果(guo)多(duo)種輸出(chu)模(mo)式(shi)，包(bao)括(kuo)直(zhi)讀測(ce)試結果(guo)，打(da)印報(bao)表(biao)，通(tong)過USB接口直(zhi)接導(dao)出(chu)測(ce)試結果(guo)到(dao)U盤(pan)；

Ø  進(jin)口鉑電(dian)板，高精(jing)度(du)、數(shu)據(ju)重(zhong)復性(xing)好；

Ø  大(da)屏(ping)幕(mu)液晶(jing)顯示(shi)，顯示(shi)數據(ju)清晰易讀，陽(yang)光下可清晰顯示(shi)

Ø  內置大(da)容量(liang)鋰電(dian)池，便於現場操(cao)作，可連續(xu)工作8小(xiao)時(shi)以(yi)上(shang)，標配(pei)快速(su)充電(dian)器；

Ø  自(zi)定(ding)義(yi)參(can)數設(she)置(zhi)：系(xi)統能根據(ju)不同使用環境情況進(jin)行相應的(de)參(can)數(shu)調(tiao)整及(ji)設置。

Ø  燒杯(bei)式(shi)測(ce)試方案(an)，方便取樣及清洗(xi)；

Ø  為了(le)避免(mian)溶(rong)液(ye)沈澱、導(dao)致(zhi)汙(wu)染物(wu)分(fen)布不均(jun)勻(yun)，尤其是在灰密測量(liang)時(shi)，請(qing)務(wu)必將專用激光電(dian)極保護(hu)罩(zhao)壹端(duan)插(cha)入(ru)燒杯(bei)中(zhong)，邊攪拌(ban)、邊測試，確保測(ce)量(liang)準(zhun)確，可(ke)靠(kao)。

Ø  智(zhi)能量程(cheng)自(zi)動切換模(mo)式(shi)，通(tong)過智能算法直(zhi)接給(gei)出(chu)鹽(yan)密(mi)值(zhi)和(he)灰密(mi)值，降(jiang)低對測(ce)試人(ren)員的(de)要求；

Ø  定(ding)制(zhi)專業(ye)級(ji)激光傳感(gan)器：傳感(gan)器前端(duan)配有(you)保護(hu)罩(zhao)，減(jian)少光線(xian)和(he)測試環境影響。

Ø  測(ce)試完(wan)成後(hou)，請(qing)分(fen)別將2支專用電(dian)極用(yong)純(chun)凈水(shui)反復清洗(xi)3次，並(bing)擦幹保存(cun)；

Ø  圖(tu)形(xing)界面的(de)菜單(dan)模(mo)式(shi)，實(shi)現良(liang)好(hao)的(de)人(ren)機(ji)信(xin)息交互直(zhi)觀簡(jian)潔、支持中(zhong)英(ying)文(wen)切換；

Ø  儀器可外(wai)配微型(xing)打(da)印機(ji)，直(zhi)接打(da)印測試結果(guo)。

2.2   產(chan)品結構(gou)

充(chong)電(dian)口： 插(cha)上(shang)專用(yong)適配(pei)器(qi)電(dian)源(yuan)線(xian)後，給(gei)儀器充電(dian)（DC）；

U S B： 可(ke)用(yong)配套(tao)U盤進(jin)行數據(ju)導(dao)出(chu)或(huo)程(cheng)序(xu)升(sheng)級(ji)；

打(da)印機(ji)： 微型(xing)打(da)印機(ji)直(zhi)接打(da)印測量結果(guo)；

開  關： 整(zheng)機(ji)供(gong)電(dian)電(dian)源(yuan)的(de)接(jie)通(tong)和(he)關閉(bi)；

顯示(shi)屏： 5.6寸(cun)真(zhen)彩(cai)屏(ping)，顯示(shi)測量(liang)結果(guo)及(ji)各(ge)功能菜單(dan)，可(ke)設置相關測試參(can)數(shu)和(he)選擇(ze)操(cao)作功能等(deng)；

按(an)鍵(jian)區： ESC返回鍵、方向鍵(jian)、OK確認鍵(jian)、TAB光標(biao)鍵(jian)、開關鍵(jian)；

ESDD： 插(cha)入(ru)專用鹽(yan)密(mi)鉑金電(dian)極，插(cha)入(ru)測試溶(rong)液(ye)中(zhong)，可(ke)直(zhi)讀鹽(yan)密(mi)度(du)；

NSDD： 插(cha)入(ru)專用灰(hui)密(mi)激光電(dian)極，插(cha)入(ru)測試溶(rong)液(ye)中(zhong)，可(ke)直(zhi)讀灰(hui)密(mi)度(du)；

量(liang)  杯(bei)： 為了(le)避免(mian)溶(rong)液(ye)沈澱、導(dao)致(zhi)汙(wu)染物(wu)分(fen)布不均(jun)勻(yun)，尤其是在灰密測量(liang)時(shi)，請(qing)務(wu)必將專用激光電(dian)極保護(hu)罩(zhao)壹端(duan)插(cha)入(ru)量杯中(zhong)，邊攪拌(ban)、邊測試；

技術指(zhi)標