產(chan)品簡介

HTGF-IVA便(bian)攜(xie)式太陽能(neng)電池測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要(yao)用於1500V光伏(fu)組(zu)串的(de)測(ce)試(shi)，能(neng)夠(gou)方(fang)便(bian)、快速的測(ce)試(shi)1500V光(guang)伏(fu)組(zu)串在自然光照下(xia)的工作(zuo)特性(xing)，可為太陽能(neng)電站(zhan)設(she)計(ji)、驗(yan)收、維護(hu)提供測(ce)試(shi)保(bao)障(zhang)，是電站建設(she)單(dan)位、質檢(jian)部門(men)、生產(chan)廠家(jia)、科(ke)研單(dan)位等(deng)檢(jian)測(ce)工具。

HTGF-IVA便(bian)攜(xie)式太陽能(neng)電池測(ce)試(shi)儀(yi)

壹(yi)、產(chan)品簡介：

HTGF-IVA便(bian)攜(xie)式太陽能(neng)電池測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要(yao)用於1500V光伏(fu)組(zu)串的(de)測(ce)試(shi)，能(neng)夠(gou)方(fang)便(bian)、快速的測(ce)試(shi)1500V光(guang)伏(fu)組(zu)串在自然光照下(xia)的工作(zuo)特性(xing)，可為太陽能(neng)電站(zhan)設(she)計(ji)、驗(yan)收、維護(hu)提供測(ce)試(shi)保(bao)障(zhang)，是電站建設(she)單(dan)位、質檢(jian)部門(men)、生產(chan)廠家(jia)、科(ke)研單(dan)位等(deng)檢(jian)測(ce)工具。本產(chan)品附(fu)帶環(huan)境溫(wen)度(du)、電池板溫(wen)度(du)、輻照度(du)檢(jian)測(ce)等(deng)測(ce)試(shi)探(tan)頭(tou)，能(neng)夠(gou)全面記錄(lu)測(ce)試(shi)的(de)環(huan)境狀態(tai)。

二(er)、技術(shu)特點(dian)：

● 滿(man)足1500VDC光伏(fu)組(zu)串系(xi)統(tong)測(ce)試(shi)。

● 可(ke)測(ce)量(liang)參(can)數： I-V曲(qu)線，P-V曲線，短路(lu)電流，開路(lu)電壓，峰(feng)值(zhi)功(gong)率(lv)，峰(feng)值(zhi)功(gong)率(lv)點電(dian)壓、電流(liu)，定(ding)電壓點電(dian)流(liu)，填(tian)充因子，轉(zhuan)換(huan)效率(lv)，串聯電阻，並聯電阻，太陽電(dian)池溫(wen)度(du)，環(huan)境溫(wen)度(du)、輻照度(du)。

● 高亮、陽(yang)光下(xia)可視(shi)彩(cai)色(se)液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，觸(chu)摸(mo)屏加(jia)鍵(jian)盤操(cao)作(zuo)，包含豐富(fu)的(de)外設接(jie)口(kou)，提供非(fei)同壹(yi)般(ban)的操(cao)作(zuo)體(ti)驗(yan)。機內存(cun)儲器可(ke)存(cun)儲超過2000幅(fu)測(ce)試(shi)波(bo)形，並內置(zhi)SD卡(ka)插槽(cao)，支(zhi)持(chi)存(cun)儲空間(jian)擴(kuo)容。

● 主(zhu)機與輻照探(tan)頭(tou)之間(jian)采(cai)用無(wu)線連接(jie)，提供最(zui)大100米(mi)的無(wu)線通信(xin)連接(jie)功(gong)能(neng)，使(shi)您的測(ce)試(shi)更(geng)便捷(jie)、方(fang)便(bian)。

● 采(cai)用便攜(xie)式設(she)計(ji)，內(nei)置(zhi)高容量(liang)鋰(li)離子電(dian)池。

 三、性(xing)能(neng)參(can)數：

主(zhu)要(yao)測(ce)試(shi)指標(biao)：

註***：轉(zhuan)換(huan)到(dao)STC下(xia)最大(da)功(gong)率(lv)準確性(xing)指標(biao)是在穩定(ding)輻照度(du)≥700W/m2，光譜(pu)滿(man)足AM1.5條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)得(de)。在實驗(yan)室(shi)條(tiao)件(jian)下(xia)該指標(biao)壹(yi)般(ban)在2%以(yi)內(nei)。現(xian)場(chang)測(ce)試(shi)時，請(qing)在太陽光(guang)照穩定(ding)條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)試(shi)，並確保(bao)輻(fu)照度(du)探(tan)頭(tou)與溫(wen)度(du)探(tan)頭(tou)安裝(zhuang)可靠，否則會因為輻照度(du)測(ce)試(shi)偏(pian)差及(ji)溫(wen)度(du)偏(pian)差照成較(jiao)大的(de)轉(zhuan)換(huan)誤差。