蓄電(dian)池(chi)內(nei)阻測(ce)試儀操作菜單(dan)功(gong)能說(shuo)明

蓄電(dian)池(chi)內(nei)阻測(ce)試儀操作菜單(dan)功(gong)能說(shuo)明

【參(can)數設置】菜單(dan)：電(dian)池(chi)內(nei)阻測(ce)試菜單(dan)；

【新(xin)電(dian)池(chi)參(can)數】菜單(dan)：同(tong)壹(yi)組(zu)電(dian)池(chi)，第壹次測(ce)試的(de)電(dian)池菜單(dan)；

【原(yuan)電(dian)池(chi)參(can)數】菜單(dan)：同(tong)壹(yi)組(zu)電(dian)池(chi)，測(ce)試節(jie)數大(da)於(yu)1節(jie)，如果第壹次沒(mei)測(ce)完，第二次接(jie)著(zhe)測(ce)時(shi)可在此(ci)菜單(dan)接(jie)續測(ce)試；

【機(ji)房編(bian)號(hao)】：測(ce)試地點(dian)設置，可在0001—9999之(zhi)間(jian)設置數字，和PC機(ji)數據分(fen)析軟件(jian)的(de)機(ji)房名稱(cheng)對應(ying)，便(bian)於數據管(guan)理(li)和測(ce)試報(bao)告(gao)編(bian)輯(ji)；

【技術員(yuan)號(hao)】：測(ce)試人(ren)員(yuan)設置，可在0001—9999之(zhi)間(jian)設置數字，和PC機(ji)數據分(fen)析軟件(jian)的(de)技(ji)術員(yuan)名稱(cheng)對應(ying)，便(bian)於數據管(guan)理(li)和測(ce)試報(bao)告(gao)編(bian)輯(ji)；

【電池組號(hao)】：如果同壹(yi)個(ge)機(ji)房或同壹(yi)個(ge)電(dian)源系(xi)統有(you)多(duo)組蓄電(dian)池(chi)，不同(tong)的(de)電(dian)池組(zu)可設置不同(tong)的(de)編(bian)號(hao)，便於(yu)數據管(guan)理(li)；

【電(dian)池廠家】：電(dian)池(chi)標稱(cheng)電壓(ya)，標稱(cheng)容量(liang)，參(can)考內(nei)阻設置菜單(dan)；

USER：自(zi)定(ding)義(yi)電(dian)池(chi)標稱(cheng)電壓(ya)，標稱(cheng)容量(liang)，參(can)考內(nei)阻

2V-1：標(biao)稱(cheng)電壓(ya)2V的(de)類(lei)型1，容(rong)量(liang)100AH-420AH；

2V-2：標(biao)稱(cheng)電壓(ya)2V的(de)類(lei)型2，容(rong)量(liang)250AH-3000AH；

6V-1：標(biao)稱(cheng)電壓(ya)6V的(de)類(lei)型1，容(rong)量(liang)5AH-300AH；

12V2：標(biao)稱(cheng)電壓(ya)12V的(de)類(lei)型2，容(rong)量(liang)18AH-35AH；

12V3：標(biao)稱(cheng)電壓(ya)2V的(de)類(lei)型3，容(rong)量(liang)38AH-120AH；

12V4：標(biao)稱(cheng)電壓(ya)2V的(de)類(lei)型4，容(rong)量(liang)150AH-600AH；

【電(dian)池(chi)容(rong)量(liang)】：電(dian)池(chi)的(de)標(biao)稱(cheng)容量(liang)。對多(duo)節(jie)同(tong)規(gui)格、同類型的(de)電(dian)池串(chuan)聯構(gou)成(cheng)的(de)電(dian)池組(zu)，整(zheng)組容(rong)量(liang)就(jiu)是(shi)單(dan)體(ti)電(dian)池(chi)的(de)標(biao)稱(cheng)容量(liang)；

【參(can)考內(nei)阻】：滿(man)容(rong)量(liang)狀態下的(de)電(dian)池內(nei)阻。不(bu)同(tong)電池廠家由(you)於(yu)電池內(nei)部(bu)活(huo)性(xing)物質(zhi)的(de)配(pei)方差異(yi)參(can)考內(nei)阻也(ye)有(you)差異(yi)。如果電池(chi)廠家提(ti)供參(can)考內(nei)阻可以(yi)直接(jie)輸入(ru)該(gai)參(can)考內(nei)阻值(zhi)，如果沒有(you)我們(men)提供了不同容量(liang)電(dian)池(chi)的(de)典型參(can)考內(nei)阻。參(can)考內(nei)阻與(yu)計算(suan)電(dian)池的(de)百分比容量(liang)，最終(zhong)判(pan)斷電池的(de)好(hao)壞有(you)關。

【電(dian)壓(ya)下限】：蓄電(dian)池(chi)內(nei)阻測(ce)試儀測(ce)試時(shi)對電池(chi)的(de)保(bao)護電(dian)壓(ya)，壹般2V電池(chi)設為1.8V,12V電池(chi)設為10.8V，低(di)於設定(ding)值(zhi)停(ting)止(zhi)測(ce)試,；

【測(ce)試方式】：

手動：當(dang)連續測(ce)試多(duo)節(jie)電(dian)池時(shi)，測(ce)完壹(yi)節(jie)後，把(ba)測(ce)試夾移到(dao)下壹節(jie)待(dai)測(ce)電(dian)池時(shi)，需要按“啟(qi)動測(ce)試"才能開(kai)始(shi)測(ce)試該(gai)節(jie)電(dian)池；

自(zi)動：當(dang)連續測(ce)試多(duo)節(jie)電(dian)池時(shi)，測(ce)完壹(yi)節(jie)後，把(ba)測(ce)試夾移到(dao)下壹節(jie)待(dai)測(ce)電(dian)池時(shi)，蓄電(dian)池(chi)內(nei)阻測(ce)試儀自(zi)動開(kai)始(shi)測(ce)試該(gai)節(jie)電(dian)池；

【極柱(zhu)數目(mu)】：單(dan)節(jie)電(dian)池的(de)正(zheng)負極(ji)極柱(zhu)數量(liang)，為(wei)偶(ou)數。小容(rong)量(liang)電(dian)池(chi)壹(yi)般只有(you)2個(ge)極(ji)柱(zhu)，大(da)容(rong)量(liang)電(dian)池(chi)有(you)多(duo)個(ge)極(ji)柱(zhu)。壹般設置為2；當(dang)大(da)容(rong)量(liang)電(dian)池(chi)需(xu)要測(ce)量(liang)多(duo)對極柱(zhu)時(shi)，可設置為4,6,8；

【加(jia)測(ce)連(lian)接條】：需要測(ce)量(liang)電(dian)池(chi)之(zhi)間(jian)連接條或(huo)連(lian)接電(dian)纜的(de)電(dian)阻時(shi)選擇此項(xiang)。加(jia)測(ce)連(lian)接條的(de)主(zhu)要目(mu)的(de)時(shi)為了防(fang)止連(lian)接(jie)松(song)動造(zao)成(cheng)的(de)連(lian)接電(dian)阻過(guo)大(da)，在大(da)電(dian)流充放電(dian)時(shi)壓(ya)降(jiang)過(guo)大(da)對電池(chi)性(xing)能有(you)影響(xiang)；

【輸入(ru)選(xuan)項(xiang)】：當(dang)電(dian)池(chi)組(zu)在浮(fu)充(chong)狀態下測(ce)試時(shi)單(dan)節(jie)電(dian)池的(de)充(chong)電參(can)數，設置以(yi)下參(can)數主要為了在測(ce)試時(shi)排(pai)除(chu)對測(ce)試結果的(de)幹擾(rao)。可以(yi)不設置，按照(zhao)原(yuan)來默(mo)認(ren)值。

浮(fu)充(chong)電(dian)壓(ya)：待測(ce)單(dan)節(jie)電(dian)池的(de)浮(fu)充(chong)電(dian)壓(ya)；

浮(fu)充(chong)電(dian)流(liu)：待測(ce)單(dan)節(jie)電(dian)池的(de)浮(fu)充(chong)電(dian)流(liu)；

電池溫度(du)：待測(ce)單(dan)節(jie)電(dian)池的(de)環(huan)境(jing)溫度(du)；

【測(ce)試電池】菜單(dan)：同(tong)壹(yi)組(zu)電(dian)池(chi)，測(ce)試節(jie)數大(da)於(yu)1節(jie)，如果第壹次沒(mei)測(ce)完，第二次接(jie)著(zhe)測(ce)時(shi)可在此(ci)菜單(dan)接(jie)著(zhe)測(ce)試；作用(yong)同【原(yuan)電(dian)池(chi)參(can)數】菜單(dan)；

【重(zhong)新(xin)測(ce)試】：在“電(dian)池測(ce)試界面(mian)"或“數據管(guan)理(li)"菜單(dan)電(dian)池(chi)組(zu)測(ce)量(liang)信(xin)息界面(mian)，如果某節(jie)電(dian)池測(ce)試數據有(you)誤或(huo)需要再核實壹下測(ce)試數據時(shi)，可以(yi)對該(gai)節(jie)電(dian)池重新(xin)測(ce)試壹次，新的(de)測(ce)試數據會(hui)自(zi)動覆(fu)蓋舊的(de)測(ce)試數據；

【接(jie)續測(ce)試】：在“數據管(guan)理(li)"菜單(dan)電(dian)池(chi)組(zu)測(ce)量(liang)信(xin)息界面(mian)，對同壹(yi)組電(dian)池，測(ce)試節(jie)數大(da)於(yu)1節(jie)，如果第壹次沒(mei)測(ce)完，第二次接(jie)著(zhe)測(ce)時(shi)可在此(ci)菜單(dan)接(jie)著(zhe)測(ce)試；作用(yong)同【原(yuan)電(dian)池(chi)參(can)數】菜單(dan)和【測(ce)試電池】菜單(dan)；

【內(nei)部(bu)存(cun)儲(chu)】：測(ce)試數據存(cun)貯在測(ce)試儀內(nei)部(bu)自(zi)帶的(de)存(cun)貯器；

【外部(bu)存(cun)儲(chu)】：測(ce)試數據存(cun)貯在外插(cha)SD卡(ka)；

【恢(hui)復(fu)參(can)數】：蓄電(dian)池(chi)內(nei)阻測(ce)試儀設置恢(hui)復(fu)到(dao)出(chu)廠時(shi)的(de)原(yuan)始(shi)設置。