電(dian)纜故障(zhang)測(ce)試(shi)儀的(de)測試(shi)方法及(ji)測試(shi)原(yuan)理(li)講(jiang)解(jie)

電(dian)纜故障(zhang)測(ce)試(shi)儀的(de)測試(shi)方法及(ji)測試(shi)原(yuan)理(li)講(jiang)解(jie)

      1、二次(ci)脈沖(chong)法：
 

　　二次(ci)脈沖(chong)法其(qi)基(ji)本原(yuan)理(li)還(hai)是脈沖(chong)反(fan)射法，是(shi)近幾年發(fa)展中(zhong)的(de)壹種(zhong)比較前沿(yan)的(de)新的(de)電(dian)纜故障(zhang)粗測方法，其(qi)技術(shu)特(te)點是：高(gao)阻(zu)故(gu)障呈(cheng)現低(di)壓脈沖(chong)短路故(gu)障波(bo)形(xing)特(te)征，容易(yi)判讀(du)。換(huan)句話(hua)講(jiang)，就(jiu)是在(zai)用高(gao)壓脈沖(chong)擊(ji)穿(chuan)高(gao)阻(zu)故(gu)障的(de)瞬間(jian)，給(gei)故障(zhang)電(dian)纜發(fa)射低(di)壓脈沖(chong)信(xin)號，用(yong)低(di)壓脈沖(chong)短路故(gu)障波(bo)形(xing)測(ce)試(shi)電(dian)纜高(gao)阻(zu)故(gu)障，與(yu)傳統(tong)的(de)測試(shi)方法相比,二次(ci)脈沖(chong)法的(de)*之處(chu)，是將(jiang)沖(chong)擊(ji)高(gao)壓閃(shan)絡法中(zhong)的(de)復雜(za)波(bo)形(xing)簡(jian)化為簡(jian)單(dan)的(de)低(di)壓脈沖(chong)短路故(gu)障波(bo)形(xing)。
 

　　二次(ci)脈沖(chong)法的(de)關鍵是要給(gei)閃測(ce)儀加壹個(ge)高(gao)頻高(gao)壓數(shu)據(ju)處理(li)器。從(cong)測(ce)試(shi)原(yuan)理(li)講(jiang)，二次(ci)脈沖(chong)法的(de)測試(shi)原(yuan)理(li)有其(qi)*性，但(dan)是其(qi)測試(shi)儀器(qi)相對復雜(za)，儀器(qi)使(shi)用(yong)也較普(pu)通的(de)閃測(ce)儀復(fu)雜(za)。
 

　　2、電(dian)橋法：
 

　　自(zi)從(cong)有了(le)地(di)埋電(dian)纜以(yi)後，電(dian)纜故障(zhang)的(de)檢(jian)測工(gong)作(zuo)就成(cheng)了(le)必(bi)須(xu)解決(jue)的(de)問題。最初(chu)的(de)電(dian)纜故障(zhang)粗測工(gong)作(zuo)，是用(yong)電(dian)橋平衡測(ce)試(shi)原(yuan)理(li)進行的(de)，當時曾(zeng)用過電(dian)阻(zu)電(dian)橋、電(dian)容電(dian)橋、低(di)壓電(dian)橋、高(gao)壓電(dian)橋等。用(yong)電(dian)橋原(yuan)理(li)測試(shi)電(dian)纜故障(zhang)距(ju)離(li)，曾(zeng)是上(shang)世(shi)紀(ji)六(liu)七十(shi)年代(dai)普(pu)遍(bian)采(cai)用(yong)的(de)方法。到了(le)2000年以(yi)後，使(shi)用(yong)電(dian)橋法測(ce)試(shi)原(yuan)理(li)的(de)儀器(qi)還(hai)繼續使(shi)用並(bing)且(qie)有所發(fa)展，使(shi)用(yong)計(ji)算(suan)機(ji)技術(shu)後，現(xian)在(zai)也出(chu)現了(le)具(ju)有更高(gao)智(zhi)能化的(de)電(dian)橋測試(shi)儀(如(ru)高(gao)壓數(shu)字電(dian)橋)。
 

　　3、脈沖(chong)反(fan)射法：
 

　　到了(le)上(shang)世(shi)紀(ji)七八十(shi)年代(dai)，電(dian)纜故障(zhang)測(ce)試(shi)普(pu)遍(bian)采(cai)用(yong)了(le)閃(shan)測(ce)法測(ce)試(shi)，原(yuan)理(li)為脈沖(chong)反(fan)射法(也(ye)叫(jiao)雷達法)。所(suo)用(yong)的(de)儀器(qi)以(yi)電(dian)子管、晶體管電(dian)路為(wei)主(zhu)，體積龐(pang)大。采用的(de)顯示(shi)器先後有示(shi)波(bo)管型(xing)閃測儀、存(cun)貯(zhu)示(shi)波(bo)管型(xing)閃測儀等(deng)等(deng)。到了(le)上(shang)世(shi)紀(ji)九(jiu)十(shi)年代(dai)以(yi)後，隨(sui)著(zhe)計(ji)算(suan)機(ji)技術(shu)的(de)普(pu)遍(bian)應(ying)用，智(zhi)能型(xing)電(dian)纜故障(zhang)閃(shan)絡測試(shi)儀(閃(shan)測(ce)儀)開(kai)始投(tou)入使(shi)用，采用的(de)測試(shi)原(yuan)理(li)依舊是(shi)脈沖(chong)反(fan)射法。采(cai)用的(de)閃測(ce)儀從(cong)顯像(xiang)管顯示(shi)到液(ye)晶(jing)顯示(shi)，普(pu)遍(bian)應(ying)用單(dan)片(pian)機(ji)電(dian)路進行控制，使電(dian)纜故障(zhang)的(de)粗測工(gong)作(zuo)進入到壹個(ge)新境界(jie)。
 

　　應(ying)用脈沖(chong)反(fan)射法(也(ye)有叫沖(chong)閃(shan)法)的(de)智(zhi)能型(xing)閃測儀，是(shi)目前應(ying)用範圍(wei)廣(guang)，市(shi)場保(bao)有量(liang)最大的(de)電(dian)纜故障(zhang)粗測儀器(qi)。例(li)如(ru)北(bei)京(jing)供(gong)電(dian)系(xi)統(tong)，由於(yu)地(di)埋電(dian)纜使用(yong)時(shi)間長(chang)，電(dian)纜鋪(pu)設(she)量(liang)大，應(ying)用電(dian)纜故障(zhang)測(ce)試(shi)儀的(de)歷(li)史也較長(chang)，從(cong)1993年後10年間(jian)，購(gou)買的(de)單(dan)片(pian)機(ji)控制的(de)、DTC系(xi)列探測儀的(de)早(zao)期(qi)產(chan)品、TC系(xi)列大屏(ping)幕(mu)液(ye)晶(jing)顯示(shi)的(de)電(dian)纜故障(zhang)測(ce)試(shi)儀有50余(yu)套(tao)，幾乎每(mei)個(ge)供(gong)電(dian)部(bu)門(men)都(dou)使用(yong)。並(bing)且(qie)在(zai)有些供(gong)電(dian)部(bu)門(men)，把(ba)該(gai)類(lei)故(gu)障(zhang)測(ce)試(shi)儀的(de)使用(yong)，作(zuo)為電(dian)纜測試(shi)工種(zhong)高(gao)級(ji)工(gong)考(kao)試(shi)必(bi)須(xu)掌(zhang)握(wo)的(de)技能，筆者(zhe)曾多次對北(bei)京(jing)供(gong)電(dian)系(xi)統(tong)進行過脈沖(chong)反(fan)射法故(gu)障測試(shi)儀的(de)技術(shu)培訓(xun)。由於(yu)該(gai)類(lei)儀器(qi)應(ying)用時(shi)間長(chang)，對(dui)該(gai)類(lei)型(xing)的(de)閃測(ce)儀的(de)使用(yong)知識(shi)和使(shi)用(yong)經(jing)驗的(de)培訓(xun)資(zi)料及(ji)專(zhuan)著(zhu)種類(lei)較多，有利(li)於(yu)用戶及時(shi)掌(zhang)握(wo)儀器(qi)的(de)使用(yong)技巧(qiao)。
 

　　脈沖(chong)反(fan)射法閃(shan)測儀的(de)測試(shi)原(yuan)理(li)為：
 

　　測(ce)量(liang)電(dian)纜故障(zhang)時(shi)，電(dian)纜可(ke)視(shi)為(wei)壹條(tiao)均(jun)勻(yun)分(fen)布的(de)傳輸(shu)線，根(gen)據傳輸(shu)線(長(chang)線)理(li)論，在(zai)電(dian)纜壹端加脈沖(chong)電(dian)壓，則(ze)此(ci)脈沖(chong)按(an)壹定(ding)的(de)速(su)度(du) (決(jue)定(ding)於電(dian)纜介(jie)質(zhi)的(de)介(jie)電(dian)常數和(he)導(dao)磁系(xi)數(shu))沿(yan)線傳(chuan)輸(shu)，當脈沖(chong)遇(yu)到故(gu)障點(dian)(或(huo)阻(zu)抗(kang)不(bu)均(jun)勻(yun)點(dian))就(jiu)會(hui)發(fa)生反(fan)射，用(yong)閃(shan)測儀記(ji)錄下發(fa)送(song)脈沖(chong)和(he)反(fan)射脈沖(chong)之(zhi)間的(de)傳輸(shu)時(shi)間△T，則(ze)可(ke)按(an)已(yi)知(zhi)的(de)傳輸(shu)速(su)度(du)V來(lai)計(ji)算(suan)出(chu)故障點的(de)距離(li)Lx，Lx=V·△T/2：
 

　　測(ce)全(quan)長(chang)則(ze)可(ke)利(li)用(yong)終端反(fan)射脈沖(chong)：L=V·T/2
 

　　同(tong)樣已(yi)知電(dian)纜全長(chang)，可(ke)測(ce)出(chu)脈沖(chong)傳(chuan)輸(shu)速(su)度(du)：V=2L/T
 

　　脈沖(chong)法測(ce)試(shi)分(fen)為低(di)壓脈沖(chong)法和(he)高(gao)壓脈沖(chong)法，二者(zhe)測試(shi)原(yuan)理(li)是壹樣(yang)的(de)，只是(shi)產(chan)生脈沖(chong)的(de)方式不(bu)壹樣(yang)，智(zhi)能型(xing)測試(shi)儀的(de)故障(zhang)距離(li)計(ji)算(suan)是(shi)儀器(qi)自(zi)動完(wan)成(cheng)的(de)。