回(hui)路電阻測試(shi)儀(yi)的測試(shi)方(fang)法主(zhu)要(yao)有(you)三種

回(hui)路電阻測試(shi)儀(yi)的測試(shi)方(fang)法主(zhu)要(yao)有(you)三種

     回(hui)路電阻測試(shi)儀(yi)，也稱(cheng)為變(bian)壓(ya)器(qi)回(hui)路電阻測試(shi)儀(yi)，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)測試(shi)高壓(ya)斷(duan)路器(qi)的(de)動(dong)態和(he)靜態觸點的(de)接觸電阻。斷(duan)路器(qi)的(de)電路電阻主(zhu)要(yao)取(qu)決於動(dong)態和(he)靜態觸點的(de)接觸電阻。接觸電阻的存在(zai)會增加(jia)。通電過(guo)程中(zhong)導體(ti)的(de)損(sun)耗會增加(jia)接觸點的(de)溫(wen)度。它(ta)的值(zhi)直(zhi)接影響(xiang)正(zheng)常(chang)工(gong)作(zuo)期間的載流(liu)能力，並(bing)在(zai)壹(yi)定(ding)程(cheng)度上(shang)影響(xiang)短(duan)路電流(liu)的(de)切(qie)斷(duan)能力。它(ta)也是(shi)反映安(an)裝和(he)維護工(gong)作(zuo)質量(liang)的(de)重(zhong)要(yao)數(shu)據(ju)。目(mu)前(qian)，回(hui)路電阻測試(shi)儀(yi)主(zhu)要(yao)有(you)三種測試(shi)方(fang)法，具體(ti)操(cao)作(zuo)如下：

　　1.橋(qiao)接法：使用雙(shuang)臂(bi)電橋測量(liang)斷(duan)路器(qi)導(dao)電電路的(de)電阻時，由於流(liu)經(jing)測量(liang)電路的(de)電流(liu)較弱(ruo)，難以(yi)消(xiao)除(chu)具(ju)有(you)大(da)電阻的氧化(hua)膜(mo)，並且(qie)難以(yi)測量(liang)價(jia)值(zhi)太大。電流(liu)小(xiao)，並且難以(yi)在(zai)接觸的(de)接觸點形成(cheng)收(shou)縮，即(ji)，不(bu)能測量(liang)收(shou)縮電阻。

　　2.壓(ya)降(jiang)法(fa)：在(zai)被測電路上(shang)施(shi)加(jia)直(zhi)流(liu)電時，在(zai)電路的(de)接觸電阻上(shang)會產生(sheng)電壓(ya)降(jiang)，測量(liang)通(tong)過(guo)電路的(de)電流(liu)值(zhi)和(he)電壓(ya)值(zhi)，並測出(chu)接觸電阻將被計(ji)算(suan)。測試(shi)過(guo)程繁(fan)瑣(suo)，測量(liang)結(jie)果(guo)是(shi)手(shou)動(dong)計(ji)算(suan)的(de)，存在(zai)壹(yi)定(ding)的(de)誤(wu)差(cha)。

　　3.微(wei)歐表法(環(huan)路電阻測試(shi)儀(yi))：原理是(shi)電壓(ya)降(jiang)原(yuan)理(li)，但(dan)測量(liang)和(he)計(ji)算(suan)均(jun)由(you)單(dan)片(pian)機處理(li)，大(da)大(da)減(jian)少(shao)了(le)工(gong)作(zuo)量(liang)。

　　1.橋(qiao)接法：使用雙(shuang)臂(bi)電橋測量(liang)斷(duan)路器(qi)導(dao)電電路的(de)電阻時，由於流(liu)經(jing)測量(liang)電路的(de)電流(liu)較弱(ruo)，難以(yi)消(xiao)除(chu)具(ju)有(you)大(da)電阻的氧化(hua)膜(mo)，並且(qie)難以(yi)測量(liang)價(jia)值(zhi)太大。電流(liu)小(xiao)，並且難以(yi)在(zai)接觸的(de)接觸點形成(cheng)收(shou)縮，即(ji)，不(bu)能測量(liang)收(shou)縮電阻。

　　2.壓(ya)降(jiang)法(fa)：在(zai)被測電路上(shang)施(shi)加(jia)直(zhi)流(liu)電時，在(zai)電路的(de)接觸電阻上(shang)會產生(sheng)電壓(ya)降(jiang)，測量(liang)通(tong)過(guo)電路的(de)電流(liu)值(zhi)和(he)電壓(ya)值(zhi)，並測出(chu)接觸電阻將被計(ji)算(suan)。測試(shi)過(guo)程繁(fan)瑣(suo)，測量(liang)結(jie)果(guo)是(shi)手(shou)動(dong)計(ji)算(suan)的(de)，存在(zai)壹(yi)定(ding)的(de)誤(wu)差(cha)。

　　3.微(wei)歐表法(環(huan)路電阻測試(shi)儀(yi))：原理是(shi)電壓(ya)降(jiang)原(yuan)理(li)，但(dan)測量(liang)和(he)計(ji)算(suan)均(jun)由(you)單(dan)片(pian)機處理(li)，大(da)大(da)減(jian)少(shao)了(le)工(gong)作(zuo)量(liang)。